折射率测量装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101750399B

    公开(公告)日:2012-01-04

    申请号:CN201010300122.4

    申请日:2010-01-08

    Abstract: 一种光学测量技术领域的折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其中:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接。本发明可测量任意性质的流体且不存在测量折射率上限的问题,结构简单,成本低,易于操作。

    折射率测量装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101750399A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN201010300122.4

    申请日:2010-01-08

    Abstract: 一种光学测量技术领域的折射率测量装置,包括:光源输出装置、耦合器、环形器、探测装置、存储装置以及样品池,其中:光源输出装置的输出端与耦合器相连接,耦合器的输出端分别与探测装置的第一输入端和环形器相连接,环形器的输出端分别与探测装置的第二输入端及样品池相连接,探测装置的输出端与存储装置相连接。本发明可测量任意性质的流体且不存在测量折射率上限的问题,结构简单,成本低,易于操作。

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