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公开(公告)号：CN1320352C
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200410084315.5
申请日：2004-11-18
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种用精密反射仪同时测量聚合物薄膜折射率和厚度的方法，步骤如下：搭建测量装置；测量被测聚合物样品插入前固定反射镜M1对应的光程；把被测聚合物样品垂直地插入与精密反射仪输出端或输入端连接的准直器和固定反射镜M1之间；用精密反射仪测量被测聚合物样品插入后固定反射镜M1对应的光程以及被测聚合物样品左右表面对应的光程；计算被测聚合物样品的折射率和厚度。该方法能同时测量在各种材料的基底上构成的聚合物薄膜的折射率和厚度。它一方面克服了椭圆偏振法和M线法测量装置复杂、影响因素较多、需要繁杂的计算或拟合过程的不足，另一方面又保留了其测量精度高的优点。该方法是一种直接非接触式测量方法，既适合测量微米级厚度的薄膜又可以测量毫米级厚度的平板。
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公开(公告)号：CN1314950C
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200410084314.0
申请日：2004-11-18
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种平面波导技术领域的同时测量平面波导多个光学参数的方法，步骤如下：搭建测量装置；测量被测波导插入前固定反射镜对应的光程和回波损耗；安装被测波导；测量被测波导插入后各个界面对应的光程和回波损耗；计算被测样品折射率和厚度；根据测得各个界面直接反射或界面之间多次内反射对应的光程和回波损耗以及光在各个界面之间多次反射的关系计算出该平面波导的插入损耗、吸收损耗、反射率和漫反射系数。本发明可同时测量平面波导的多个光学参数，原理简单、容易操作、测量精度较高、不需要繁杂的计算过程，适合于测量各种材料构成的平面波导。该方法对被测样品的表面质量没有影响，尤其适合于测试多层平面波导中每一层的光学参数。
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公开(公告)号：CN1296676C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200510024426.1
申请日：2005-03-17
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器，包括：两个高频CO2激光脉冲写入的长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和一个紫外光写入法写入的长周期光纤光栅LPFGC，单模光纤，用单模光纤把两个高频CO2激光脉冲写入的长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和一个紫外光写入法写入的长周期光纤光栅LPFGC相互级联，级联时紫外光写入法写入的长周期光纤光栅LPFGC处于两个高频CO2激光脉冲写入的长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB之间，并且两个高频CO2激光脉冲写入的长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。本发明同时实现了弯曲曲率和弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1289893C
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200510024425.7
申请日：2005-03-17
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种弯曲曲率和弯曲方向的同时测量方法，首先测量长周期光纤光栅弯曲特性，用作图法画出长周期光纤光栅LPFGA和LPFGB的谐振波长对圆周360°范围内各圆周弯曲方向的弯曲灵敏度曲线；把LPFGA和LPFGB和LPFGC用单模光纤相互级联，并埋入被测工程结构；测量谐振波长变化；计算弯曲曲率；根据测得的LPFGA和LPFGB谐振波长的变化、以及弯曲曲率，并对比弯曲灵敏度曲线判断出被测工程结构的弯曲方向。本发明同时实现了工程结构弯曲曲率和任意弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。
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公开(公告)号：CN1683903A
公开(公告)日：2005-10-19
申请号：CN200510024425.7
申请日：2005-03-17
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种弯曲曲率和弯曲方向的同时测量方法，首先测量长周期光纤光栅弯曲特性，用作图法画出长周期光纤光栅LPFGA和LPFGB的谐振波长对圆周360°范围内各圆周弯曲方向的弯曲灵敏度曲线；把LPFGA和LPFGB和LPFGC用单模光纤相互级联，并埋入被测工程结构；测量谐振波长变化；计算弯曲曲率；根据测得的LPFGA和LPFGB谐振波长的变化、以及弯曲曲率，并对比弯曲灵敏度曲线判断出被测工程结构的弯曲方向。本发明同时实现了工程结构弯曲曲率和任意弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。
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公开(公告)号：CN1605855A
公开(公告)日：2005-04-13
申请号：CN200410084315.5
申请日：2004-11-18
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种用精密反射仪同时测量聚合物薄膜折射率和厚度的方法，步骤如下：搭建测量装置；测量被测聚合物样品插入前固定反射镜M1对应的光程；把被测聚合物样品垂直地插入与精密反射仪输出端或输入端连接的准直器和固定反射镜M1之间；用精密反射仪测量被测聚合物样品插入后固定反射镜M1对应的光程以及被测聚合物样品左右表面对应的光程；计算被测聚合物样品的折射率和厚度。该方法能同时测量在各种材料的基底上构成的聚合物薄膜的折射率和厚度。它一方面克服了椭圆偏振法和M线法测量装置复杂、影响因素较多、需要繁杂的计算或拟合过程的不足，另一方面又保留了其测量精度高的优点。该方法是一种直接非接触式测量方法，既适合测量微米级厚度的薄膜又可以测量毫米级厚度的平板。
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公开(公告)号：CN1664495A
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN200510024426.1
申请日：2005-03-17
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器，包括：长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和LPFGC，单模光纤，用单模光纤把长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和LPFGC相互级联，级联时长周期光纤光栅LPFGC处于长周期光纤光栅LPFGA和LPFGB之间，并且长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。本发明同时实现了弯曲曲率和弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。
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公开(公告)号：CN1605848A
公开(公告)日：2005-04-13
申请号：CN200410084314.0
申请日：2004-11-18
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种平面波导技术领域的同时测量平面波导多个光学参数的方法，步骤如下：搭建测量装置；测量被测波导插入前固定反射镜对应的光程和回波损耗；安装被测波导；测量被测波导插入后各个界面对应的光程和回波损耗；计算被测样品折射率和厚度；根据测得各个界面直接反射或界面之间多次内反射对应的光程和回波损耗以及光在各个界面之间多次反射的关系计算出该平面波导的插入损耗、吸收损耗、反射率和漫反射系数。本发明可同时测量平面波导的多个光学参数，原理简单、容易操作、测量精度较高、不需要繁杂的计算过程，适合于测量各种材料构成的平面波导。该方法对被测样品的表面质量没有影响，尤其适合于测试多层平面波导中每一层的光学参数。
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