公开(公告)号：CN103017937B

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201210484600.0

申请日：2012-11-23

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 华学明 ,  肖笑 ,  汪琳 ,  斯红 ,  吴毅雄

IPC: G01K13/00 ,  G01N21/73

Abstract: 本发明提供了一种多组分焊接电弧等离子体的温度和浓度测量方法，包括搭建测量装置，测量装置包括中性滤光片、窄带滤光片、微距镜头、CMOS高速相机、以及固定所述CMOS高速相机的三脚架，其中，所述微距镜头安装在所述CMOS高速相机上，在所述微距镜头向外的方向上依次设置有所述窄带滤光片和中性滤光片。本发明选取某一元素的原子谱线和一次电离的离子谱线，克服了传统方法对组分物理特性的要求，应用于焊接电弧光谱诊断领域，可以广泛应用于不同组分的焊接电弧等离子体温度和浓度的测量。

公开(公告)号：CN103017937A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201210484600.0

申请日：2012-11-23

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 华学明 ,  肖笑 ,  汪琳 ,  斯红 ,  吴毅雄

IPC: G01K13/00 ,  G01N21/73

Abstract: 本发明提供了一种多组分焊接电弧等离子体的温度和浓度测量装置，包括中性滤光片、窄带滤光片、微距镜头、CMOS高速相机、以及固定所述CMOS高速相机的三脚架，其中，所述微距镜头安装在所述CMOS高速相机上，在所述微距镜头向外的方向上依次设置有所述窄带滤光片和中性滤光片。还提供了相应的方法。本发明选取某一元素的原子谱线和一次电离的离子谱线，克服了传统方法对组分物理特性的要求，应用于焊接电弧光谱诊断领域，可以广泛应用于不同组分的焊接电弧等离子体温度和浓度的测量。