基于深度学习生成工业缺陷样本的方法及系统

    公开(公告)号:CN111127454A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911376015.7

    申请日:2019-12-27

    Abstract: 本发明提供了一种基于深度学习生成工业缺陷样本的方法及系统,包括:步骤1:采集工业缺陷产品图片,并在工业缺陷产品图片上标注缺陷信息;步骤2:构建对抗生成深度模型;步骤3:根据标注的缺陷信息,在抗生成深度模型中进行对抗训练;步骤4:训练获得缺陷样本;步骤5:对缺陷样本进行筛选,剔除不符合预设的缺陷样本,得到工业缺陷样本。本发明所生成的工业缺陷图片互相关性弱,缺陷特征突出,且具有较高的精细结构质量;本发明所生成的工业缺陷图片质量较高,能够显著提升依据其所训练的深度缺陷检测网络的性能指标。

    基于U-Transformer多层次特征重构的异常检测方法及系统

    公开(公告)号:CN113297804A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110706976.0

    申请日:2021-06-24

    Abstract: 本发明提供了一种基于U‑Transformer多层次特征重构的异常检测方法及系统,包括如下步骤:模型建立步骤:建立U‑Transformer模型;推断步骤:通过U‑Transformer模型对样本进行异常检测。本发明完全使用正常样本进行训练,提取多尺度的特征信息,并通过从局部到整体的多层次特征重构的方式进行异常检测;在有部分异常样本参与训练的时候,U‑Transformer模型的异常检测能力将会得到进一步的提升,有利于提高特征重构的异常检测的效果。

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