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公开(公告)号:CN102135625A
公开(公告)日:2011-07-27
申请号:CN201010597029.4
申请日:2010-12-21
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01T1/167
Abstract: 一种核辐射测量技术领域的基于等效半径修正的双探测器分段γ扫描测量装置,该测量装置包括:旋转台、探测器平台组件、透射源平台组件、平台升降驱动组件、两个相同的具有准直器的高纯锗探测器、透射源及其屏蔽部件和分析模块。本发明通过废物桶的匀速旋转减少桶内物质不均匀度的影响,将两个相同的高纯锗探测器置于不同水平位置对匀速旋转的废物桶进行分层测量,通过分析得到每层放射性核素的径向等效半径,根据该半径的探测效率准确计算该层的放射性核素活度。由于排除了放射性核素均匀分布的假设,更符合实际废物桶的特点,因此大大提高了传统分段γ扫描技术的测量准确度。
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公开(公告)号:CN102135625B
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN201010597029.4
申请日:2010-12-21
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01T1/167
Abstract: 一种核辐射测量技术领域的基于等效半径修正的双探测器分段γ扫描测量装置,该测量装置包括:旋转台、探测器平台组件、透射源平台组件、平台升降驱动组件、两个相同的具有准直器的高纯锗探测器、透射源及其屏蔽部件和分析模块。本发明通过废物桶的匀速旋转减少桶内物质不均匀度的影响,将两个相同的高纯锗探测器置于不同水平位置对匀速旋转的废物桶进行分层测量,通过分析得到每层放射性核素的径向等效半径,根据该半径的探测效率准确计算该层的放射性核素活度。由于排除了放射性核素均匀分布的假设,更符合实际废物桶的特点,因此大大提高了传统分段γ扫描技术的测量准确度。
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公开(公告)号:CN102253401A
公开(公告)日:2011-11-23
申请号:CN201110108147.9
申请日:2011-04-28
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01T1/167
Abstract: 一种核辐射测量技术领域的用于层析γ扫描测量的机械装置,包括:废物桶旋转台、旋转台移动组件、探测器升降平台组件、透射源升降平台组件、基座、具有准直器的高纯锗探测器和具有屏蔽块的透射源,旋转台移动组件、探测器升降平台组件及透射源升降平台组件共同设置于基座上,废物桶旋转台、高纯锗探测器和透射源分别设置于旋转台移动组件、探测器升降平台组件和透射源升降平台组件上且探测器升降平台组件和透射源升降平台组件分别置于废物桶旋转台的两侧。本发明实现透射源与探测器的精确升降以及废物桶的旋转和平移,能满足在特殊情况下探测器与透射源不同层时的测量要求,可实现探测器的水平位置的小范围移动。
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