公开(公告)号：CN106338493A

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201610755915.2

申请日：2016-08-29

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 叶坚 ,  林俐 ,  刘中辉 ,  古宏晨

IPC: G01N21/41

CPC classification number: G01N21/41 ,  G01N2021/4126

Abstract: 本发明提供了一种测量分子层折射率的方法，所述方法包括如下步骤：1)制备金属纳米核，在所述金属纳米核表面吸附待测分子，形成所述待测分子的分子层，同时测量金属纳米核在吸附待测分子前后的吸收光谱偏移；2)在分子层外表面包覆金属壳层，得到内嵌待测分子的核壳结构金属纳米颗粒；通过透射电子显微镜测量核壳间隙尺寸，得到分子层的厚度；3)根据测得的分子层厚度数据，建立吸收光谱与分子层折射率的关系模型；4)假定多个分子层折射率，通过所述的关系模型计算得到多个模拟光谱偏移量，最终得到待测分子层的有效折射率。本发明提供的方法能有效测定纳米颗粒表面分子层的折射率。

公开(公告)号：CN106338493B

公开(公告)日：2018-12-25

申请号：CN201610755915.2

申请日：2016-08-29

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 叶坚 ,  林俐 ,  刘中辉 ,  古宏晨

IPC: G01N21/41

Abstract: 本发明提供了一种测量分子层折射率的方法，所述方法包括如下步骤：1)制备金属纳米核，在所述金属纳米核表面吸附待测分子，形成所述待测分子的分子层，同时测量金属纳米核在吸附待测分子前后的吸收光谱偏移；2)在分子层外表面包覆金属壳层，得到内嵌待测分子的核壳结构金属纳米颗粒；通过透射电子显微镜测量核壳间隙尺寸，得到分子层的厚度；3)根据测得的分子层厚度数据，建立吸收光谱与分子层折射率的关系模型；4)假定多个分子层折射率，通过所述的关系模型计算得到多个模拟光谱偏移量，最终得到待测分子层的有效折射率。本发明提供的方法能有效测定纳米颗粒表面分子层的折射率。