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公开(公告)号:CN101012493A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710037030.X
申请日:2007-02-01
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种金属表面纳米化的方法,属于金属材料工程技术领域。本发明方法为:将刚性圆柱体垂直放置在金属材料上,并使该刚性圆柱体旋转摩擦金属材料表面,旋转摩擦使金属材料表面产生强烈的塑性变形,导致晶粒细化,并最终实现金属材料表面纳米化。本发明通过移动圆柱体或被加工工件或试样实现持续反复加工,将纳米材料的优异性能很好的嫁接到普通金属材料上面,赋予后者一些原来没有的特殊性能,提高其应用性,开阔其应用领域。本发明可以实现大面积板材或工件的加工处理,适合进行工业推广应用。本发明工艺简单,设备经济,工业上易于实现,且形成的纳米膜层性能优越,与金属材料基体结合良好。
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公开(公告)号:CN117572176A
公开(公告)日:2024-02-20
申请号:CN202311777547.8
申请日:2023-12-22
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种基于电流电压积分监测的功率器件封装绝缘老化测试方法,通过构造高压方波老化测试电路后,对待测封装绝缘样品两端连续施加高频、高dV/dt方波高电压,并按固定时间间隔采集霍尔电流传感器和高压差分探头上的信号后分别进行积分和比较运算,通过计算待测封装绝缘样品老化过程中两端电压和流经电流的积分和老化初期的积分的差值获得其老化状态信息,当封装绝缘试样老化到最终击穿时,电压和电流积分值出现异常,控制输入电压和电流迅速降为0,关闭触发脉冲信号端的输出,本发明通过对待测封装绝缘样品施加连续的高dV/dt方波电压,监测其两端电压及流经电流的积分,及其与老化初始状态下电压电流积分的差值判断其老化状态,并实时比较电压电流积分值与所设定的击穿阈值,实现在高dV/dt方波下封装绝缘试样老化至击穿时的过流保护。
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公开(公告)号:CN100415903C
公开(公告)日:2008-09-03
申请号:CN200710037030.X
申请日:2007-02-01
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种金属表面纳米化的方法,属于金属材料工程技术领域。本发明方法为:将刚性圆柱体垂直放置在金属材料上,并使该刚性圆柱体旋转摩擦金属材料表面,旋转摩擦使金属材料表面产生强烈的塑性变形,导致晶粒细化,并最终实现金属材料表面纳米化。本发明通过移动圆柱体或被加工工件或试样实现持续反复加工,将纳米材料的优异性能很好的嫁接到普通金属材料上面,赋予后者一些原来没有的特殊性能,提高其应用性,开阔其应用领域。本发明可以实现大面积板材或工件的加工处理,适合进行工业推广应用。本发明工艺简单,设备经济,工业上易于实现,且形成的纳米膜层性能优越,与金属材料基体结合良好。
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