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公开(公告)号：CN106164643B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201580018544.3
申请日：2015-02-19
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G01N15/1434 , G01N15/0211 , G01N15/06 , G01N21/49 , G01N21/53 , G01N2015/0046 , G01N2015/0693 , G01N2015/1454 , G01N2201/06113 , G01N2201/0683 , G01S7/4916 , G01S7/499 , G01S17/95 , H01S5/0028 , H01S5/0427 , H01S5/0617 , H01S5/06832 , Y02A90/19
Abstract: 浮游粒子检测装置(1)能够实现装置结构的简化且准确判别浮游粒子的种类，该装置具有包含激光发光元件(11)和反向监视用受光元件(12)的激光照射部(10)、选择性地接收在照射到浮游粒子(50)时产生的散射光中的预定偏振成分的光而生成第2检测信号的散射光受光部(20)、以及根据第1检测信号和第2检测信号判别浮游粒子的种类的判别处理部(30)，入射到反向监视用受光元件(12)的入射光包含反向监视用激光(L0)和照射到浮游粒子(50)的照射激光(L1)的散射光(Ls)中的朝向激光照射部(10)的后方散射光(Lbs)。
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公开(公告)号：CN103503071B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201280020558.5
申请日：2012-02-17
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B20/10222 , G11B20/10037 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/1024 , G11B20/10277 , G11B20/10462 , G11B2220/2537
Abstract: 为了通过稳定的时钟信号的生成提高作为再现信号的二值化数据的质量，信号处理装置（30）具有：自适应型滤波器（14）；PRML电路，其通过基于时钟信号的周期的采样点处的采样，依次生成二值化数据，并且依次生成PR波形（S12）；加法器（18），其根据目标波形（S12）与实施了滤波的再现波形（S11）之间的差分依次计算针对采样点的第1相位误差；通过从第1相位误差中排除特定的相位误差而输出第2相位误差的选择器（37）；以及生成与第2相位误差对应的频率的时钟信号的时钟生成部（29），特定的相位误差包含关于与实施滤波后的再现波形与再现波形的平均水平交叉的交叉点最接近的采样点的相位误差。
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公开(公告)号：CN103946921A
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201280056054.9
申请日：2012-10-24
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/133 , G11B2007/0013
Abstract: 光学头装置具有使来自光盘(OD)的返回光束透射衍射而射出透射衍射光束的衍射光学元件(21)、和光检测器(22)。衍射光学元件(21)包含具有0次衍射作用和±1次衍射作用的主衍射区域(210)、和具有0次衍射作用和±1次衍射作用的副衍射区域(211A、211B)。光检测器(22)包含接收透射衍射光束的0次光成分的主受光部(23)、和接收透射衍射光束的+1次光成分和－1次光成分中的一方的第1副受光部(24)。第1副受光部(24)具有在规定方向上排列的多个受光面。
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公开(公告)号：CN102414748B
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201080018641.X
申请日：2010-05-21
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/1353
CPC classification number: G11B7/005 , G11B7/131 , G11B20/10009 , G11B20/10027 , G11B20/10046 , G11B20/10222 , G11B20/10296 , G11B20/10416 , G11B2220/2595
Abstract: 一种光盘装置，具有：增益调节单元(104)，其检测第1信号(Sa)和第2信号(Sd)，并调节第1信号(Sa)的振幅，该第1信号是从来自超解像光盘的返回光束的中央部检测到的，该第2信号是从与超解像光盘的轨道对应的方向的周边部检测到的；减法单元(105)，其从第2信号(Sd)减去由增益调节单元(104)调节振幅后的第1信号(Sg)，生成第3信号(Sh)；以及单元(107)，其将使第3信号(Sh)延迟后的信号(Si)与第1信号(Sa)进行合成，生成再生信号(RF)。即使超解像再生和普通解像再生混合存在，也能够减轻由于普通解像再生和超解像再生之间产生的信号相位偏移而导致的信号劣化，从超解像盘再生质量良好的数据。
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公开(公告)号：CN113188964A
公开(公告)日：2021-07-30
申请号：CN202110474857.7
申请日：2016-12-08
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 中井贤也
Abstract: 本发明提供微小物检测装置，具有第1、第2光学系统，第1光学系统包含第1、第2反射区域、第1、第2穿过区域和第1受光元件，第1光学系统利用第1、第2反射区域对照射光照到粒子而散射的散射光进行反射，由此将散射光引导至第1受光元件，第2光学系统穿过第2穿过区域从粒子直接取入照到粒子而散射的散射光的一部分，根据散射光检测粒子的光学特性，通过在第2反射区域设置第1穿过区域，将散射光引导至第1受光元件，通过在第1反射区域设置第2穿过区域，将散射光引导至第2光学系统，第2穿过区域位于与第1穿过区域对置的位置，并且位于第1反射区域内被由第2反射区域中的第1穿过区域的周缘反射的散射光到达的点包围的区域的内侧。
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公开(公告)号：CN103052986A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201180037714.4
申请日：2011-07-25
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/24 , G11B7/24038
CPC classification number: G11B7/24 , G11B7/0908 , G11B7/24038 , G11B7/24056 , G11B7/24065
Abstract: 光信息记录介质（1）包括：至少1层的记录层（11）；保护层（13），其使会聚后的激光束透过；以及超分辨功能层（12），其至少在被照射会聚后的激光束的期间，光学特性在比由会聚光学系统（25）的光学性能和激光束（26）的波长决定的衍射极限小的局部区域发生变化。保护层（13）的光入射面与记录层（11）之间的厚度（K）的上限是0.083mm。
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公开(公告)号：CN101617364B
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN200880005673.9
申请日：2008-02-19
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/1353 , G11B7/1381 , G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1861 , G02B5/1819 , G02B5/1842 , G02B26/0808 , G11B7/1353 , G11B7/1381 , G11B2007/0006
Abstract: 一种结构被简约化的光拾取装置及可以用于该光拾取装置的衍射光学元件，能够使三种激光的衍射光高效地入射到单一的光检测器，并能够根据该光检测器的检测信号进行适当的焦点控制，光拾取装置具有：能够射出三种激光的激光光源(10)；使从光盘(31)反射的反射激光衍射的衍射光学元件(42)；和检测从衍射光学元件(42)射出的衍射光的1台光检测器(43)。衍射光学元件(42)利用光学部件构成，该光学部件被制作成：关于从三种激光中波长接近(波长差异较小)的两种激光分别生成的衍射光，使0次光为其最大分量，关于从剩余的一种激光生成的衍射光，使+1次光或-1次光为其最大分量。
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公开(公告)号：CN102414748A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080018641.X
申请日：2010-05-21
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/135
CPC classification number: G11B7/005 , G11B7/131 , G11B20/10009 , G11B20/10027 , G11B20/10046 , G11B20/10222 , G11B20/10296 , G11B20/10416 , G11B2220/2595
Abstract: 一种光盘装置，具有：增益调节单元(104)，其检测第1信号(Sa)和第2信号(Sd)，并调节第1信号(Sa)的振幅，该第1信号是从来自超解像光盘的返回光束的中央部检测到的，该第2信号是从与超解像光盘的轨道对应的方向的周边部检测到的；减法单元(105)，其从第2信号(Sd)减去由增益调节单元(104)调节振幅后的第1信号(Sg)，生成第3信号(Sh)；以及单元(107)，其将使第3信号(Sh)延迟后的信号(Si)与第1信号(Sa)进行合成，生成再生信号(RF)。即使超解像再生和普通解像再生混合存在，也能够减轻由于普通解像再生和超解像再生之间产生的信号相位偏移而导致的信号劣化，从超解像盘再生质量良好的数据。
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公开(公告)号：CN101874270B
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：CN200880117828.8
申请日：2008-08-21
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 中井贤也
CPC classification number: G11B7/1387 , G11B7/139
Abstract: 本发明的课题在于，提供即使在对包含衍射极限以下的小记录标记的超分辨光盘进行再现时，也能有效地检测低频噪声成分小的再现信号，提高再现质量的光学头装置。作为解决手段，设置孔径控制单元(70)并利用受光元件(11)检测比入射瞳径D1范围大的反射光，有效地对低频噪声成分比例少的所述反射光的周围部进行受光检测，得到质量良好的再现信号，而无需使用高数值孔径且制造成本高的物镜，其中，该孔径控制单元(70)对来自光盘(7)的反射光发挥功能，使回路光路中的物镜的出射瞳径D2大于去路光路中的入射瞳径D1。
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公开(公告)号：CN1624783A
公开(公告)日：2005-06-08
申请号：CN200410100026.X
申请日：2002-11-29
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/082 , G11B7/22 , H01S5/02212 , H01S5/02268 , H01S5/02296 , H01S5/4031 , H01S5/4087
Abstract: 一种半导体激光器单元包括：在激光器束发射方向上被彼此相互平行设置的多个半导体激光器元件；以及一个用于定位且固定所述多个半导体激光器元件的底座。所述多个半导体激光器元件被如此设置，以便于从所述多个半导体激光器元件中象散最大的半导体激光器元件发射的激光束的轴与所述底座的参考轴重合。在所述半导体激光器单元被设置在光学头装置上的情况下，所述多个激光束的聚焦特征可以得到改善。
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