Patent search ap:("三菱电机大楼技术服务株式会社") AND inv:"寺岛英明" Page 1

1.

发明公开
分析装置有权

公开(公告)号：CN113767267A

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN201980095986.6

申请日：2019-06-06

Applicant: 三菱电机大楼技术服务株式会社

Inventor： 中谷彰宏 , 安部雅哉 , 桥爪哲朗 , 阿部芳春 , 寺岛英明

IPC: G01H17/00 , G01M99/00

Abstract: 分析装置(1)例如具备传感器(2)、分析部(4)、分析部(5)、分析部(6)以及统合部(7)。分析部(5)将由分析部(4)取得的谱图分割成多个频带，对多个频带分别取得频带强度时间序列。分析部(6)取得与频带强度时间序列分别对应的强度谱图。统合部(7)通过统合由分析部(6)取得的多个强度谱图来取得统合谱图。

Patent Agency Ranking