公开(公告)号：CN1496562A

公开(公告)日：2004-05-12

申请号：CN02806589.1

申请日：2002-01-09

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 峰近重和 ,  矢野秀盟 ,  永田敬二 ,  青井义博 ,  坂本一三 ,  浅野贤二 ,  冈岛正

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/125

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/00 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/0945 ,  G11B11/10595

Abstract: 光盘装置(10)包含光学透镜(14)。激光通过光学透镜(14)向磁光盘(68)的记录面照射，根据在记录面反射的激光检测TE信号或RF信号。这里，MPU(50)使光学透镜(14)在光轴方向上移位，TE信号检测电路(42)或RF信号检测电路(60)在移位的各透镜位置检测TE信号或RF信号。由MPU(50)调节激光功率，使检测的各TE信号或RF信号的振幅低于饱和值。调节参数后，控制光学透镜(14)的位置，使随后检测的TE信号或RF信号的振幅达到最大。

公开(公告)号：CN1251199C

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN02806589.1

申请日：2002-01-09

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 峰近重和 ,  矢野秀盟 ,  永田敬二 ,  青井义博 ,  坂本一三 ,  浅野贤二 ,  冈岛正

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/125

CPC classification number: G11B7/126 ,  G11B7/00 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/0945 ,  G11B11/10595

Abstract: 光盘装置(10)包含光学透镜(14)。激光通过光学透镜(14)向磁光盘(68)的记录面照射，根据在记录面反射的激光检测TE信号或RF信号。这里，MPU(50)使光学透镜(14)在光轴方向上移位，TE信号检测电路(42)或RF信号检测电路(60)在移位的各透镜位置检测TE信号或RF信号。由MPU(50)调节激光功率，使检测的各TE信号或RF信号的振幅低于饱和值。调节参数后，控制光学透镜(14)的位置，使随后检测的TE信号或RF信号的振幅达到最大。