公开(公告)号：CN103597353A

公开(公告)日：2014-02-19

申请号：CN201280028852.0

申请日：2012-05-31

Applicant: 三洋化成工业株式会社 ,  和光纯药工业株式会社

Inventor： 水野雄介 ,  宫森将光 ,  松田真次郎 ,  橹曜

IPC: G01N33/553 ,  C01B33/12 ,  G01N33/543

CPC classification number: G01N33/54326 ,  B82Y30/00 ,  C01B33/18 ,  C01P2004/64 ,  C01P2006/42 ,  G01N33/5434 ,  G01N33/552 ,  G01N33/553 ,  C01B33/12

Abstract: 本发明的测定对象物质测定方法的特征在于，使用磁性二氧化硅颗粒来测定试样中的测定对象物质，在所述磁性二氧化硅颗粒中，在含有60重量%～95重量%的平均粒径为1nm～15nm的超顺磁性金属氧化物的二氧化硅颗粒的表面，固定化有测定对象物质、测定对象物质的类似物质或者与测定对象物质特异性结合的物质。

公开(公告)号：CN103597353B

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201280028852.0

申请日：2012-05-31

Applicant: 三洋化成工业株式会社 ,  和光纯药工业株式会社

Inventor： 水野雄介 ,  宫森将光 ,  松田真次郎 ,  橹曜

IPC: G01N33/553 ,  C01B33/12 ,  G01N33/543

CPC classification number: G01N33/54326 ,  B82Y30/00 ,  C01B33/18 ,  C01P2004/64 ,  C01P2006/42 ,  G01N33/5434 ,  G01N33/552 ,  G01N33/553

Abstract: 本发明的测定对象物质测定方法的特征在于，使用磁性二氧化硅颗粒来测定试样中的测定对象物质，在所述磁性二氧化硅颗粒中，在含有60重量%～95重量%的平均粒径为1nm～15nm的超顺磁性金属氧化物的二氧化硅颗粒的表面，固定化有测定对象物质、测定对象物质的类似物质或者与测定对象物质特异性结合的物质。