-
公开(公告)号：CN103838662A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201310581221.8
申请日：2013-11-19
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: G06F11/34
CPC classification number: G06F11/3466 , G06F11/3409 , G06F11/348 , G06F2201/86 , G06F2201/88
Abstract: 提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统，包括：将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数，其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。
-
公开(公告)号：CN103838539A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201310597957.4
申请日：2013-11-22
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: G06F3/14
CPC classification number: G06F11/3409 , G06F11/348 , G06F2201/86 , G06F2201/88 , G06F2201/885
Abstract: 本发明提供了一种性能测量单元、包括该单元的处理器核心和处理剖析方法。所述性能测量单元包括：事件计数器，被配置为记录指示在处理器核心中发生的事件的数量的计数器值；映射事件计数器，被配置为将记录在事件计数器中的计数器值复制到映射事件计数器。所述性能测试单元被配置为使用事件计数器和映射事件计数器来确定在处理器核心中发生的有效事件的数量。所述有效事件与当执行所选择的处理时发生的事件相应。
-
公开(公告)号：CN103838662B
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201310581221.8
申请日：2013-11-19
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: G06F11/34
CPC classification number: G06F11/3466 , G06F11/3409 , G06F11/348 , G06F2201/86 , G06F2201/88
Abstract: 提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统，包括：将第一断点指令写入动态库函数的开始地址；记录第一事件计数值，所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数；将第二断点指令写入动态库函数的返回地址；通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值，所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数，其中，进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.026 seconds)
