半导体封装件
    1.
    发明公开
    半导体封装件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118231396A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202311305807.1

    申请日:2023-10-09

    Inventor: 黄玗熠 沈智慧

    Abstract: 公开了一种半导体封装件。该半导体封装件包括:第一半导体裸片;第二半导体裸片,第二半导体裸片中的每个具有比第一半导体裸片的宽度小的宽度,并且第二半导体裸片堆叠在第一半导体裸片上;第一非导电层,在第一半导体裸片与最下面的第二半导体裸片之间;以及第二非导电层,在第二半导体裸片中的相邻第二半导体裸片之间。第二半导体裸片中的每个包括:第一基底,具有第一前表面和第一后表面;第一层间介电层,覆盖第一前表面;第一贯通电极,穿透第一基底;以及第一钝化层,覆盖第一后表面。第一凹槽在第一基底的一部分和第一钝化层中。第二非导电层在第一凹槽内。

    制造半导体封装件的方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115966471A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211234733.2

    申请日:2022-10-10

    Inventor: 郑埈溶 黄玗熠

    Abstract: 一种制造半导体封装件的方法,该方法包括:在绝缘层上设置第一种子层,使得第一种子层包括第一金属材料;在第一种子层上设置第二种子层,使得第二种子层包括与第一金属材料不同的第二金属材料;在第二种子层上形成光刻胶图案;在光刻胶图案之间形成导电图案,导电图案包括第二金属材料,并且具有在第一方向上延伸的线形;去除光刻胶图案;蚀刻第二种子层,以形成具有在第一方向上延伸的线形的第二种子图案;以及蚀刻第一种子层,以形成具有在第一方向上延伸的线形的第一种子图案,其中,蚀刻剂包括去离子水、氟化合物、竞争化合物和腐蚀抑制剂。

Patent Agency Ranking