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公开(公告)号：CN101266821B
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200810081210.2
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/0045
Abstract: 提供一种从光学记录介质再现数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述方法包括：从设置在导入区或导出区中的临时缺陷管理区再现临时盘定义结构，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息，其中，所述缺陷管理开/关模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行的信息。
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公开(公告)号：CN100454392C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200480011097.0
申请日：2004-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B27/36 , G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B2020/1285 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。
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公开(公告)号：CN101266823B
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN200810081212.1
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/0045
Abstract: 提供一种在光学记录介质上记录数据的设备以及一种从光学记录介质再现数据的设备，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述记录数据的设备包括：拾取器，发射光以传递关于所述光学记录介质的数据；和控制器，选择缺陷管理开/关模式，所述缺陷管理开/关模式允许所述设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行，并且所述控制器控制拾取器将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。
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公开(公告)号：CN1975907A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610168232.3
申请日：2003-09-22
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/004 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供了一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。
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公开(公告)号：CN1781142A
公开(公告)日：2006-05-31
申请号：CN200480011097.0
申请日：2004-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B27/36 , G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B2020/1285 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1700339A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510069441.8
申请日：2005-05-10
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1816 , G11B20/00086 , G11B20/00094 , G11B20/00949
Abstract: 一种记录/再现块被记录在其上的记录介质，一种将数据记录在记录介质上和/或从记录介质再现数据的设备，和一种在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据的方法。记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据，和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
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公开(公告)号：CN101079272B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200710126968.9
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B20/18
Abstract: 一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
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公开(公告)号：CN101002265B
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200580025285.3
申请日：2005-08-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10907 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了一种信息存储介质、一种记录和/或再现设备以及一种记录和/或再现方法。该记录设备包括：读/写单元，用于在信息存储介质上记录数据，其中，在信息存储介质中设置有用于写用户数据的用户数据区和用于替换用户数据区中出现的缺陷的备用区，用来替换记录在用户数据区中的原始记录块的替换记录块被记录在用户数据区的未记录区或备用区中；控制单元，用于控制读/写单元，从而在信息存储介质上记录表示替换记录块的部分被替换的替换条目。结果，特别是在用户数据区和备用区中都采用通过逻辑覆写(LOW)的数据替换的系统中或者在执行缺陷管理的系统中能够有利地减少数据再现时间，从而提高系统性能。
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公开(公告)号：CN100580798C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200610168232.3
申请日：2003-09-22
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/004 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供了一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。
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公开(公告)号：CN101266823A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200810081212.1
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/0045
Abstract: 提供一种在光学记录介质上记录数据的设备以及一种从光学记录介质再现数据的设备，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述记录数据的设备包括：拾取器，发射光以传递关于所述光学记录介质的数据；和控制器，选择缺陷管理开/关模式，所述缺陷管理开/关模式允许所述设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行，并且所述控制器控制拾取器将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。
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