公开(公告)号：CN102590533B

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201110425605.1

申请日：2011-12-16

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金奭镐 ,  赵赫来 ,  韩秀定

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N35/00722 ,  G01N2035/00306 ,  G01N2035/00316 ,  G01N2035/00891 ,  Y10T436/115831

Abstract: 本发明提供一种测试设备及其控制方法，该测试设备在打开和关闭单元被打开的状态中当经过了预定量的时间时自动关闭该打开和关闭单元。该测试设备包括：打开和关闭单元，打开和关闭该测试设备；显示单元，显示关于该测试设备的信息；和控制器，在该打开和关闭单元被打开的同时经过了预定量的时间时，该控制器关闭该打开和关闭单元，并且在显示单元上显示在该预定量的时间过去之前剩余的时间。

公开(公告)号：CN102590533A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201110425605.1

申请日：2011-12-16

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金奭镐 ,  赵赫来 ,  韩秀定

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N35/00722 ,  G01N2035/00306 ,  G01N2035/00316 ,  G01N2035/00891 ,  Y10T436/115831

Abstract: 本发明提供一种测试设备及其控制方法，该测试设备在打开和关闭单元被打开的状态中当经过了预定量的时间时自动关闭该打开和关闭单元。该测试设备包括：打开和关闭单元，打开和关闭该测试设备；显示单元，显示关于该测试设备的信息；和控制器，在该打开和关闭单元被打开的同时经过了预定量的时间时，该控制器关闭该打开和关闭单元，并且在显示单元上显示在该预定量的时间过去之前剩余的时间。