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公开(公告)号:CN100579671C
公开(公告)日:2010-01-13
申请号:CN200610159819.8
申请日:2006-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及一种除尘装置及除尘方法,依据本发明所提供的除尘装置包含:用于支持作业物的支座;可以靠近/远离所述支座的支架移送部;结合于所述支架移送部的除尘支架,该除尘支架上形成喷射工作流体的喷嘴和在所述支架移送部靠近所述支座的状态下引导由所述喷嘴供应的工作流体的流向的流体引导部。由此,使用相对少的工作流体提高除尘效率。
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公开(公告)号:CN1990125A
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN200610159819.8
申请日:2006-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及一种除尘装置及除尘方法,依据本发明所提供的除尘装置包含:用于支持作业物的支座;可以靠近/远离所述支座的支架移送部;结合于所述支架移送部的除尘支架,该除尘支架上形成喷射工作流体的喷嘴和在所述支架移送部靠近所述支座的状态下引导由所述喷嘴供应的工作流体的流向的流体引导部。由此,使用相对少的工作流体提高除尘效率。
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公开(公告)号:CN109425764A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201810863816.5
申请日:2018-08-01
Abstract: 提供了半导体器件的改进的制造方法、探针卡、包括该探针卡的测试装置以及制造探针卡的方法。探针卡包括电路板、位于电路板下面的支撑件以及位于支撑件的底表面上的多个探针。每个探针具有配置为接触测试对象中包括的凸块的侧表面的尖端。支撑件可以包括位于与探针连接的底表面上的应力吸收层。半导体器件的制造可以包括:在半导体器件的主体上形成伸长的导电凸块、通过使探针的尖端接触凸块的侧表面而测试半导体器件、以及封装半导体器件。
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公开(公告)号:CN102538333A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110434632.5
申请日:2011-12-15
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: F25D25/005 , F25D2323/021
Abstract: 本发明提供了一种冰箱,该冰箱包括主体、设置在主体中并包括储藏空间的储藏室、划分储藏空间的分隔板和由分隔板支撑的储藏容器。储藏容器包括:容器主体,限定储藏容器的外观,并具有顶部开口;厚度增强部分,形成在容器主体的下部处,以防止容器主体的下部的温度因储藏室的冷空气而快速改变;热绝缘构件,设置在厚度增强部分和容器主体之间的空间中。
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