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公开(公告)号：CN108735618A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201711281235.2
申请日：2017-12-06
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R1/07357 , G01R1/06705 , G01R1/07314 , G01R1/07342 , H04N1/00342 , H04N1/32138
Abstract: 探针包括一个梁和至少两个尖端。所述梁向待测器件(DUT)发送测试信号。所述至少两个尖端沿与所述梁的长度方向成预定角度的方向布置在所述梁的第一端部上，并接触所述DUT的相邻端子。所述梁具有沿所述梁的宽度方向比所述至少两个尖端的宽度总和大的宽度，使得所述探针具有改善的电流承载能力并且防止由于过电流而被损坏。
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公开(公告)号：CN110596567B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN201910352691.4
申请日：2019-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/28
Abstract: 公开了一种测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法。测试接口板包括一个或多个中继电路和同步信号生成器。中继电路复制来自自动测试设备(ATE)的测试信号，通过相应的通道中的一个通道将复制的测试信号施加到多个被测试装置(DUT)中的每个DUT，并且响应复制的测试信号，向ATE提供从多个DUT中的每个DUT接收的多个测试结果信号。同步信号生成器从多个DUT中的每个DUT接收多个状态信号并将时序同步信号提供给ATE。所述多个状态信号中的每个状态信号指示多个DUT中的一个DUT中的测试操作的完成，测试操作与测试信号相关联，并且当所有的多个状态信号指示测试操作的完成时，同步信号生成器激活时序同步信号。
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公开(公告)号：CN110596567A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910352691.4
申请日：2019-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/28
Abstract: 公开了一种测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法。测试接口板包括一个或多个中继电路和同步信号生成器。中继电路复制来自自动测试设备(ATE)的测试信号，通过相应的通道中的一个通道将复制的测试信号施加到多个被测试装置(DUT)中的每个DUT，并且响应复制的测试信号，向ATE提供从多个DUT中的每个DUT接收的多个测试结果信号。同步信号生成器从多个DUT中的每个DUT接收多个状态信号并将时序同步信号提供给ATE。所述多个状态信号中的每个状态信号指示多个DUT中的一个DUT中的测试操作的完成，测试操作与测试信号相关联，并且当所有的多个状态信号指示测试操作的完成时，同步信号生成器激活时序同步信号。
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