公开(公告)号：CN108228237B

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN201711317200.X

申请日：2017-12-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 王昊 ,  迪利普·慕斯卡瑞斯南 ,  布莱恩·C·格雷森

IPC: G06F9/30 ,  G06F9/38

Abstract: 提供一种用于存储流检测和处理的设备和方法。根据一个总体方面，一种设备可包括：加载/存储电路和区域大小检测电路。加载/存储电路可被配置为发出用于将数据存储在存储器系统中的多个存储指令。区域大小检测电路可被配置为至少部分地基于通过在所述多个存储指令中跟踪多个缓存行地址项，从多个缓存器确定用于对存储指令的流进行存储的缓存器，其中，以不同的频率更新每个地址项。

公开(公告)号：CN108228237A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711317200.X

申请日：2017-12-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 王昊 ,  迪利普·慕斯卡瑞斯南 ,  布莱恩·C·格雷森

IPC: G06F9/30 ,  G06F9/38

CPC classification number: G06F12/0875 ,  G06F12/0888 ,  G06F12/0897 ,  G06F2212/202 ,  G06F2212/502 ,  G06F9/30072 ,  G06F9/30181 ,  G06F9/3857

Abstract: 提供一种用于存储流检测和处理的设备和方法。根据一个总体方面，一种设备可包括：加载/存储电路和区域大小检测电路。加载/存储电路可被配置为发出用于将数据存储在存储器系统中的多个存储指令。区域大小检测电路可被配置为至少部分地基于通过在所述多个存储指令中跟踪多个缓存行地址项，从多个缓存器确定用于对存储指令的流进行存储的缓存器，其中，以不同的频率更新每个地址项。