公开(公告)号：CN107015917B

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN201611174599.6

申请日：2016-12-19

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 诸炫承 ,  李熙元 ,  金守珍

IPC: G06F12/02 ,  G06F3/06

Abstract: 一种储存装置的读取回收方法，包括：在随机数量的读操作的周期，检测存储于多个存储块中每一个内的非选择数据中的错误位数量。关于读操作的数量，以大于基准率的率值增加的检测到的错误位数量的存储块在一个或更多读操作的随机数的周期上被选择为弱块。存储于弱块中的非选择数据中的错误位数量在读操作的固定数量的周期被检测。检测根据固定数量周期检测到的错误位数量是否大于或等于读取回收基准。非选择数据为没有被主机请求的数据。

公开(公告)号：CN107015917A

公开(公告)日：2017-08-04

申请号：CN201611174599.6

申请日：2016-12-19

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 诸炫承 ,  李熙元 ,  金守珍

IPC: G06F12/02 ,  G06F3/06

CPC classification number: G06F11/076 ,  G06F11/0727 ,  G06F11/0751 ,  G06F11/102 ,  G06F11/1072 ,  G11C16/3495 ,  G11C29/52 ,  G11C2029/0409 ,  G11C2029/0411 ,  G06F12/0246 ,  G06F3/0614 ,  G06F3/064 ,  G06F3/065 ,  G06F3/0679

Abstract: 一种储存装置的读取回收方法，包括：在随机数量的读操作的周期，检测存储于多个存储块中每一个内的非选择数据中的错误位数量。关于读操作的数量，以大于基准率的率值增加的检测到的错误位数量的存储块在一个或更多读操作的随机数的周期上被选择为弱块。存储于弱块中的非选择数据中的错误位数量在读操作的固定数量的周期被检测。检测根据固定数量周期检测到的错误位数量是否大于或等于读取回收基准。非选择数据为没有被主机请求的数据。