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发明公开
操作存储设备的方法和执行该方法的存储设备审中-公开

公开(公告)号：CN119493523A

公开(公告)日：2025-02-21

申请号：CN202410431038.8

申请日：2024-04-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 沈成焕 , 郭容焕 , 罗钟声 , 朴俊烨

IPC: G06F3/06

Abstract: 一种操作包括存储多个元数据的多个元块的存储设备的方法包括：从主机设备接收第一命令；基于第一命令获得包括第一特征值至第四特征值的多个特征值以及多个元块中的每个元块的劣化指数；以及输出对应于第一命令的第一响应。第一命令用于检测存储设备的异常状态，第一特征值与耐久性特性相关，第二特征值与数据保持特性相关，第三特征值与读取干扰特性相关，第四特征值与温度特性相关，从多个特征值计算劣化指数，并且基于第一特征值或劣化指数中的至少一个来生成第一响应。

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