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发明公开
用于测试晶片的探针板无效

公开(公告)号：CN101241144A

公开(公告)日：2008-08-13

申请号：CN200810088151.1

申请日：2008-01-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李贤爱 , 崔浩政

IPC: G01R1/073 , G01R31/28 , H01L21/66

CPC classification number: G01R1/07342

Abstract: 本发明公开了一种用于测试晶片的探针板。该探针板包括：具有平板的主卡，在该平板中形成有孔；通过该孔垂直地安装在该主卡上的辅卡；和附着于该辅卡的多个探针针头。可以极大地减少制造探针板的成本和时间。

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