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公开(公告)号:CN117238352A
公开(公告)日:2023-12-15
申请号:CN202310671424.X
申请日:2023-06-07
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: G11C29/10
Abstract: 提供了一种存储器测试装置,包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息提取地址特征向量。
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