公开(公告)号：CN106680685B

公开(公告)日：2021-11-23

申请号：CN201610986856.X

申请日：2016-11-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金在显 ,  朴洙龙

IPC: G01R31/26

Abstract: 提供了一种阻抗匹配器件和一种具有该阻抗匹配器件的测试系统。所述阻抗匹配器件包括锥形带线和多条带线。锥形带线在基底上沿第一方向延伸并具有在垂直于第一方向的第二方向上的宽度。锥形带线包括具有相同长度和不同宽度的第一段至第n段，其中，“n”是2或更大的自然数。所述多条带线连接到第n段，使得通过第一段接收的输入信号分离。

公开(公告)号：CN114595101A

公开(公告)日：2022-06-07

申请号：CN202111433362.6

申请日：2021-11-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张熊镇 ,  张成权 ,  金容正 ,  朴洙龙

IPC: G06F11/22

Abstract: 提供了一种测试装置、测试系统及测试系统的操作方法。所述测试装置被配置为对执行脉冲幅度调制(PAM)操作的接口通信的被测装置(DUT)进行测试，所述测试装置包括：逻辑生成/确定装置，被配置为生成对应于测试模式的多个位；第一驱动器和第二驱动器，被配置为分别根据所述多个位当中的第一位和第二位的逻辑状态生成第一不归零(NRZ)信号和第二NRZ信号，并分别经由第一通道和第二通道输出所生成的第一NRZ信号和第二NRZ信号。所述第一NRZ信号根据所述第一位的所述逻辑状态具有第一高电平或第一低电平，并且所述第二NRZ信号根据所述第二位的所述逻辑状态具有第二高电平或第二低电平。所述第一高电平和所述第二高电平彼此不同。

公开(公告)号：CN106680685A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201610986856.X

申请日：2016-11-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金在显 ,  朴洙龙

IPC: G01R31/26

CPC classification number: H01P3/08 ,  G01R31/2607 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/44 ,  H01P5/12 ,  G01R31/2601

Abstract: 提供了一种阻抗匹配器件和一种具有该阻抗匹配器件的测试系统。所述阻抗匹配器件包括锥形带线和多条带线。锥形带线在基底上沿第一方向延伸并具有在垂直于第一方向的第二方向上的宽度。锥形带线包括具有相同长度和不同宽度的第一段至第n段，其中，“n”是2或更大的自然数。所述多条带线连接到第n段，使得通过第一段接收的输入信号分离。