X射线检测台、X射线成像设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN103654812B

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201310406471.8

    申请日:2013-09-09

    Inventor: 朴泰昱 韩宇燮

    CPC classification number: A61B6/467 A61B6/461 A61B6/462

    Abstract: 公开了一种X射线检测台、X射线成像设备及其控制方法。所述X射线成像设备,包括:可移动的X射线放射模块,用于使用X射线照射对象;X射线检测模块,包括可移动的X射线检测器,用于检测来自X射线放射模块的X射线;触摸传感器装置,安装在X射线检测模块上并位于X射线检测器的移动方向上,用于感测触摸。如果触摸传感器装置感测到触摸,则X射线放射模块和X射线检测器中的至少一个被移动到感测到触摸的位置。

    X射线检测模块、X射线成像设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN103654812A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310406471.8

    申请日:2013-09-09

    Inventor: 朴泰昱 韩宇燮

    CPC classification number: A61B6/467 A61B6/461 A61B6/462

    Abstract: 本发明公开了一种X射线检测模块、X射线成像设备及其控制方法。所述X射线成像设备包括:可移动的X射线放射模块,用于使用X射线照射对象;X射线检测模块,包括可移动的X射线检测器,用于检测来自X射线放射模块的X射线;触摸传感器装置,安装在X射线检测模块上并位于X射线检测器的移动方向上,用于感测触摸。如果触摸传感器装置感测到触摸,则X射线放射模块和X射线检测器中的至少一个被移动到感测到触摸的位置。

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