改善了与测试线的连接的薄膜晶体管阵列面板

    公开(公告)号:CN1773357B

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200510115685.5

    申请日:2005-11-08

    Inventor: 朴政遇

    CPC classification number: G09G3/006 G09G2300/0426

    Abstract: 本发明公开了一种改善了显示信号线和测试线之间接触的薄膜晶体管(TFT)阵列面板。TFT阵列面板包括:栅极线和数据线,彼此交叉;开关元件,与栅极线和数据线连接;至少一条测试线,位于栅极线或者数据线的端部附近。绝缘层覆盖栅极线、数据线和开关元件,并且具有暴露栅极线或者数据线的端部的第一接触孔和暴露测试线的第二接触孔。辅助测试线形成在绝缘层上,并且与导电层公共连接,其中,导电层通过第一接触孔和第二接触孔将至少一条测试线与栅极线或者数据线连接。

    改善了与测试线的连接的薄膜晶体管阵列面板

    公开(公告)号:CN1773357A

    公开(公告)日:2006-05-17

    申请号:CN200510115685.5

    申请日:2005-11-08

    Inventor: 朴政遇

    CPC classification number: G09G3/006 G09G2300/0426

    Abstract: 本发明公开了一种改善了显示信号线和测试线之间接触的薄膜晶体管(TFT)阵列面板。TFT阵列面板包括:栅极线和数据线,彼此交叉;开关元件,与栅极线和数据线连接;至少一条测试线,位于栅极线或者数据线的端部附近。绝缘层覆盖栅极线、数据线和开关元件,并且具有暴露栅极线或者数据线的端部的第一接触孔和暴露测试线的第二接触孔。辅助测试线形成在绝缘层上,并且与导电层公共连接,其中,导电层通过第一接触孔和第二接触孔将至少一条测试线与栅极线或者数据线连接。

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