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公开(公告)号：CN118069034A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202311020646.1
申请日：2023-08-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/06
Abstract: 提供了CXL装置、计算机系统和CXL装置的操作方法。所述CXL装置包括：至少一个存储器；CXL控制器，被配置为经由CXL接口接收用于访问所述至少一个存储器的请求，并且基于所述请求输出指示所述至少一个存储器中的第一存储器的存储器标识符、命令和第一存储器的行地址；以及刷新控制器，被配置为将所述行地址存储为第一存储器的目标行地址，并且还被配置为基于用于刷新第一存储器中的所述目标行地址的命令的接收的数量来生成目标刷新信号。
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公开(公告)号：CN117636993A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311055731.1
申请日：2023-08-21
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了存储器装置以及用于检测其故障存储器单元的方法。所述存储器装置包括：存储器单元阵列，包括多个存储器单元，字线缺陷检测电路，通过多条字线电连接到存储器单元阵列，以及控制逻辑，被配置为：控制存储器单元阵列的输入/输出操作。当存储器缺陷检测命令从存储器控制器被接收时，字线缺陷检测电路被配置为，并基于选择的字线的电压与参考电压之间的差生成故障标志。当模式寄存器读取命令从存储器控制器被接收时，控制逻辑被配置为：将故障标志和与故障标志对应的故障行地址发送至存储器控制器。
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公开(公告)号：CN117253515A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202310396778.8
申请日：2023-04-13
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/406 , G11C11/4078
Abstract: 提供存储器装置及其防御方法。所述防御方法包括：获得用于刷新存储器单元阵列的遭受攻击的行的多个防御类型；确定所述多个防御类型的相应的操作时间；以及通过基于确定的相应的操作时间在所述多个防御类型之间进行切换来对存储器单元阵列的所述行执行刷新操作。
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公开(公告)号：CN118262777A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202311204874.4
申请日：2023-09-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/30 , G11C29/08 , G11C7/06 , G11C7/08 , G11C11/408 , G11C11/4094
Abstract: 提供了一种用于提高可靠性的易失性存储器装置和操作其的方法。所述易失性存储器装置包括电结合到多条字线和多条位线的存储器单元阵列以及电结合到多条位线的位线感测放大器。提供了控制逻辑，控制：存储器单元阵列内的以第一周期彼此间隔开的连续的自刷新操作、将虚设数据存储在存储器单元阵列内、存储器单元阵列内的以大于第一周期的第二周期彼此间隔开的连续的测试刷新操作、以及使用位线感测放大器对阵列内的选择的存储器单元执行测试感测操作。提供了劣化检测电路，从位线感测放大器接收与选择的存储器单元相关联的感测结果，并且基于感测结果输出具有与选择的存储器单元之中的劣化存储器单元的数量成比例的大小的多位计数电流。
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公开(公告)号：CN118069035A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202311028567.5
申请日：2023-08-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明的实施例提供CXL装置和CXL装置的操作方法，所述CXL装置包括：多个存储器；存储器管理单元，被配置为：配置所述多个存储器被分类并且包括在其中的至少一个层组；基于所述多个存储器中的第一存储器的元数据确定第一存储器的等级，并且根据所述等级确定所述至少一个层组中的第一存储器所属的层组；以及存储器处理单元，被配置为基于数据的分层信息将数据存储在所述多个存储器中的包括在所述至少一个层组中的至少一个存储器中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117275564A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202310417828.6
申请日：2023-04-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56 , G11C29/50 , G01R31/317
Abstract: 测试装置、测试方法和测试系统被提供。所述测试装置包括电源电路和测试控制器，电源电路被配置为通过电源电压引脚将输入电压供应到被测存储器装置，测试控制器被配置为：(i)将命令信号发送到存储器装置，(ii)在发送命令信号之后的第一时间点测量通过电源电压引脚流向存储器装置的第一电流，(iii)在与第一时间点不同的第二时间点测量通过电源电压引脚流向存储器装置的第二电流，并且(iv)将测量的第一电流与测量的第二电流进行比较，从而确定存储器装置中是否具有缺陷。
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公开(公告)号：CN118963492A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410048143.3
申请日：2024-01-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 计算设备包括第一管芯，该第一管芯包括：逻辑结构，包括执行针对数据的计算的处理设备；前侧线路结构，设置在逻辑结构的前表面上并且包括线路；以及后侧电力网络结构，设置在逻辑结构的后表面上并且提供电力。该计算设备还包括第二管芯，该第二管芯包括存储器件，该存储器件存储用于处理设备的计算的数据。存储器件包括分别对应于多条通道的多个存储体组，并且第二管芯通过C2C接合方法而接合到后侧电力网络结构上。
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公开(公告)号：CN118398060A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202311253776.X
申请日：2023-09-26
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了存储器装置、存储器系统和用于操作存储器装置的方法。所述存储器装置包括：模式寄存器，被配置为存储用于指示所述存储器装置的终端电阻的第一码和用于禁用有缺陷电阻器的第二码；以及输出驱动器，包括包含多个上拉电阻器的多个上拉单元和包含多个下拉电阻器的多个下拉单元。输出驱动器被配置为：基于第二码禁用或启用相应的上拉电阻器和下拉电阻器，基于第一码启用所述多个上拉单元之中的包括所述相应的上拉电阻器的上拉单元的子集，并且基于第一码启用所述多个下拉单元之中的包括所述相应的下拉电阻器的下拉单元的子集。
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公开(公告)号：CN118036095A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202310655834.5
申请日：2023-06-05
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供存储器装置和用于管理存储器装置的使用历史的方法。所述存储器装置可包括：时间计数器，被配置为根据预定时间间隔输出计数信号；使用历史电路，被配置为基于计数信号来写入操作时间值，并且生成并写入与操作时间值对应的验证值；以及命令解码器，被配置为从存储器控制器接收指令。指令可根据基于操作时间值和验证值确定的操作模式。
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公开(公告)号：CN117672282A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311051153.4
申请日：2023-08-21
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种电子装置及其操作方法以及存储器装置。电子装置包括：系统芯片，其输出写时钟和写数据信号；以及存储器装置，其基于写时钟接收写数据信号并且输出频率不同于写时钟的频率的读数据信号和数据选通信号。该存储器装置还包括第一间隔振荡器、第二间隔振荡器和温度传感器。电子装置在电子装置的初始化中执行第一训练并且在初始化之后的操作中执行第二训练。存储器装置在第二训练中在间隔振荡器的操作期间执行计数操作，并且参考存储器装置的温度信息校正最终计数值。
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