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公开(公告)号:CN101388392B
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN200810175627.5
申请日:2008-07-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/04 , H01L27/08 , H01L23/60 , H01L21/822
CPC classification number: H01L27/0814 , H01L27/0255
Abstract: 本发明提供一种具有片上型静电放电(ESD)保护电路的半导体器件及其制造方法。该片上型ESD保护电路可以包括在半导体衬底中具有接触第二导电型区域的第一导电型区域的第一结型二极管以及具有布置在半导体衬底的第一导电型区域上且接触该第一导电型区域的金属性材料层的第一肖特基二极管。
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公开(公告)号:CN101752337A
公开(公告)日:2010-06-23
申请号:CN200910253079.8
申请日:2009-11-17
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/482 , H01L23/60 , H01L23/528 , G02F1/13
CPC classification number: H01L24/14 , H01L24/06 , H01L27/0251 , H01L2224/0401 , H01L2224/0603 , H01L2224/13022 , H01L2224/13099 , H01L2224/1403 , H01L2224/14133 , H01L2924/00013 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01015 , H01L2924/01023 , H01L2924/01032 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01082 , H01L2924/10329 , H01L2924/14 , H01L2924/00014 , H01L2224/13599 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099 , H01L2224/29099 , H01L2224/29599
Abstract: 本发明提供了半导体集成电路器件及显示装置。一种半导体集成电路器件包括:形成在衬底中的静电放电(ESD)掺杂区;形成在衬底上的凸块;以及第一布线层和第二布线层,形成在凸块之下相同的水平面上。第一布线层和第二布线层彼此分隔开,每个第一布线层和第二布线层的至少一部分与凸块重叠。第一布线层电连接到ESD掺杂区和凸块,第二布线层与凸块绝缘。
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公开(公告)号:CN101388392A
公开(公告)日:2009-03-18
申请号:CN200810175627.5
申请日:2008-07-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/04 , H01L27/08 , H01L23/60 , H01L21/822
CPC classification number: H01L27/0814 , H01L27/0255
Abstract: 本发明提供一种具有片上型静电放电(ESD)保护电路的半导体器件及其制造方法。该片上型ESD保护电路可以包括在半导体衬底中具有接触第二导电型区域的第一导电型区域的第一结型二极管以及具有布置在半导体衬底的第一导电型区域上且接触该第一导电型区域的金属性材料层的第一肖特基二极管。
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