公开(公告)号：CN108172262B

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN201710991230.2

申请日：2017-10-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金相勋 ,  成俊基

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/56

Abstract: 提供了一种包括可修复的易失性存储器的存储器件及其操作方法。存储器件包括存储用户数据的非易失性存储器，缓冲用户数据并且在存储器件的空闲时间执行用于检测易失性单元阵列上的缺陷单元的测试的易失性存储器，以及控制易失性存储器在空闲时间执行测试，并将包括测试结果或测试历史的测试信息存储在非易失性存储器中的控制器。

公开(公告)号：CN108172262A

公开(公告)日：2018-06-15

申请号：CN201710991230.2

申请日：2017-10-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金相勋 ,  成俊基

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/56

CPC classification number: G11C29/38 ,  G11C29/36 ,  G11C29/44 ,  G11C29/783 ,  G11C2029/0409 ,  G11C2029/4402 ,  G11C29/56

Abstract: 提供了一种包括可修复的易失性存储器的存储器件及其操作方法。存储器件包括存储用户数据的非易失性存储器，缓冲用户数据并且在存储器件的空闲时间执行用于检测易失性单元阵列上的缺陷单元的测试的易失性存储器，以及控制易失性存储器在空闲时间执行测试，并将包括测试结果或测试历史的测试信息存储在非易失性存储器中的控制器。