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公开(公告)号：CN1273981C
公开(公告)日：2006-09-06
申请号：CN03123086.5
申请日：2003-04-30
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/127 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种用于识别光学记录介质类型的方法和装置。该方法包括在使用第一光学系统执行聚焦搜索时检测光学记录介质的表面反射信号SS和可写入表面反射信号SR，计算表面反射信号SS的高峰和低谷之间的时间差DTS，计算表面反射信号的高峰和可写入表面反射信号SR的高峰之间的时间差DTR，将DTR和DTS代入下列等式获得DT：DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)，并且将DT与参考时间T相比较，如果DT大于T，驱动第一光学系统，如果DT不大于T，驱动第二光学系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1490810A
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN03140966.0
申请日：2003-06-02
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 崔奉涣
CPC classification number: G11B19/124 , G11B19/125
Abstract: 本发明提供了当再现时尚盘时，检测具有各种形状的时尚盘，以及直径为12cm的标准盘，并防止不稳定的设备和方法。该方法包括如下步骤：(a)通过感测光盘的重量和驱动光盘驱动器，检测插入光盘驱动器中的光盘的尺寸；(b)通过检测记录在光盘的导入区中的数据量，确定光盘的尺寸；(c)如果记录在光盘上的数据量低于参考值，把拾取器移动到边缘区域和测量聚焦误差；和(d)如果测量的聚焦误差在常数值之上，把光盘检测成某种类型的光盘，和限制光盘驱动器的工作速度。
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公开(公告)号：CN1455405A
公开(公告)日：2003-11-12
申请号：CN03123086.5
申请日：2003-04-30
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/127 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种用于识别光学记录介质类型的方法和装置。该方法包括在使用第一光学系统执行聚焦搜索时检测光学记录介质的表面反射信号SS和可写入表面反射信号SR，计算表面反射信号SS的高峰和低谷之间的时间差DTS，计算表面反射信号的高峰和可写入表面反射信号SR的高峰之间的时间差DTR，将DTR和DTS代入下列等式获得DT∶DT＝(DTR)a/(DTS)b(a－b≥1/2)，并且将DT与参考时间T相比较，如果DT大于T，驱动第一光学系统，如果DT不大于T，驱动第二光学系统。
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公开(公告)号：CN100383876C
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN03140966.0
申请日：2003-06-02
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 崔奉涣
CPC classification number: G11B19/124 , G11B19/125
Abstract: 本发明提供了当再现时尚盘时，检测具有各种形状的时尚盘，以及直径为12cm的标准盘，并防止不稳定的设备和方法。该方法包括如下步骤：(a)通过感测光盘的重量和驱动光盘驱动器，检测插入光盘驱动器中的光盘的尺寸；(b)通过检测记录在光盘的导入区中的数据量，确定光盘的尺寸；(c)如果记录在光盘上的数据量低于参考值，把拾取器移动到边缘区域和测量聚焦误差；和(d)如果测量的聚焦误差在常数值之上，把光盘检测成某种类型的光盘，和限制光盘驱动器的工作速度。
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公开(公告)号：CN1236444C
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN02147529.6
申请日：2002-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 崔奉涣
IPC: G11B19/02
CPC classification number: G11B19/125
Abstract: 本发明提供了一种利用S型曲线的峰-峰值比率检测光盘的方法。此方法使用信号来检测光盘，其中信号产生于来自形成在光盘记录表面上的凹坑的不规则反射光，此方法包括下列步骤：(a)检测产生于不规则反射的第一信号的峰-峰值与产生于不规则反射的第二信号的峰-峰值的比率；及(b)根据第一和第二信号的幅值及检测到的比率对光盘进行检测。相应地，使用产生于来自光盘的不规则反射光的第一和第二S型曲线信号的峰-峰值比率对光盘进行检测，因此消除了光盘检测错误的发生，并达到光盘的快速重放。
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公开(公告)号：CN1433016A
公开(公告)日：2003-07-30
申请号：CN02147529.6
申请日：2002-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 崔奉涣
IPC: G11B19/02
CPC classification number: G11B19/125
Abstract: 本发明提供了一种利用S型曲线的峰－峰值比率检测光盘的方法。此方法使用信号来检测光盘，其中信号产生于来自形成在光盘记录表面上的凹坑的不规则反射光，此方法包括下列步骤：(a)检测产生于不规则反射的第一信号的峰－峰值与产生于不规则反射的第二信号的峰－峰值的比率；及(b)根据第一和第二信号的幅值及检测到的比率对光盘进行检测。相应地，使用产生于来自光盘的不规则反射光的第一和第二S型曲线信号的峰－峰值比率对光盘进行检测，因此消除了光盘检测错误的发生，并达到光盘的快速重放。
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