重叠测量方法和使用其的重叠测量设备

    公开(公告)号:CN101063829B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200710101054.7

    申请日:2007-04-26

    Inventor: 崔交亨 朴珍俊

    CPC classification number: G03F7/70633

    Abstract: 一种重叠测量设备包括,产生具有多个波长的可见光的光源;光学模块;从由该光源产生的可见光选择具有单个波长的可见光,使该具有单个波长的可见光入射在该多个重叠图形上,以及使用从该多个重叠图形反射的可见光,以用预定的颜色投影该重叠图形;成像单元,根据该可见光的各个波长,获取该多个重叠图形的图像,和获取相应图像信号;以及控制单元,输出控制信号到光学模块,以便该光学模块可以使用与可见光的各个波长相关的信息,用特定的颜色投影该重叠图形,该可见光用来投影由选择单元选择的重叠图形。

    重叠测量方法和使用其的重叠测量设备

    公开(公告)号:CN101063829A

    公开(公告)日:2007-10-31

    申请号:CN200710101054.7

    申请日:2007-04-26

    Inventor: 崔交亨 朴珍俊

    CPC classification number: G03F7/70633

    Abstract: 一种重叠测量设备包括,产生具有多个波长的可见光的光源;光学模块;从由该光源产生的可见光选择具有单个波长的可见光,使该具有单个波长的可见光入射在该多个重叠图形上,以及使用从该多个重叠图形反射的可见光,以用预定的颜色投影该重叠图形;成像单元,根据该可见光的各个波长,获取该多个重叠图形的图像,和获取相应图像信号;以及控制单元,输出控制信号到光学模块,以便该光学模块可以使用与可见光的各个波长相关的信息,用特定的颜色投影该重叠图形,该可见光用来投影由选择单元选择的重叠图形。

Patent Agency Ranking