半导体集成电路器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115915759A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202210988666.7

    申请日:2022-08-17

    Inventor: 崔训诚 尹智英

    Abstract: 一种半导体集成电路器件,其包括:标准单元,位于衬底上;一次性可编程(OTP)存储器结构,位于所述标准单元的边缘部分处;以及编程晶体管,在与所述标准单元的设置有所述OTP存储器结构的所述边缘部分相邻的位置处位于所述标准单元外部,所述编程晶体管电连接到所述OTP存储器结构。所述OTP存储器结构包括第一反熔丝和第二反熔丝。当编程电压被施加到编程晶体管并且偏置电源电压被施加到所述OTP存储器结构时,所述第一反熔丝和所述第二反熔丝均变得短路,并且所述偏置电源电压被提供到所述标准单元。

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