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公开(公告)号：CN100474170C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200510091468.7
申请日：2005-08-12
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 尹映重
CPC classification number: B41J2/325
Abstract: 本发明提供了一种方法和装置，用于调整使用两个加热头的成像设备的对准，其中该方法包括步骤：(a)分别使用第一和第二加热头在介质上打印第一和第二预定图案，(b)通过使用打印的图案来检测第一和第二加热头之间的打印位置距离差；和(c)根据所检测的距离差，变换加热头打印的图像数据，从而以子像素单位调整对准。因此，可以通过检测加热头的打印位置之间的距离差，和将目标图像数据移动所检测的距离差，来补偿加热头的打印位置距离差。结果是，可以轻松地和精确地调整加热头的对准。
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公开(公告)号：CN1760035A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200510113810.9
申请日：2005-10-17
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种可在成像装置中使用的介质检测装置和方法包括：将光照射在记录介质表面上的一光源；接收从所述记录介质反射的光的一光接收件；和一角度改变单元，其可改变所述光源和光接收件中至少一个相对于记录介质的角度；和一控制器，根据所述角度改变单元改变的角度，通过由所述光接收件测量的信号确定记录介质的类型。通过改变光的照射角和反射角，所述介质检测装置可以有效地检测记录介质的类型。
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公开(公告)号：CN1760035B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200510113810.9
申请日：2005-10-17
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种可在成像装置中使用的介质检测装置和方法包括：将光照射在记录介质表面上的一光源；接收从所述记录介质反射的光的一光接收件；和一角度改变单元，其可改变所述光源和光接收件中至少一个相对于记录介质的角度；和一控制器，根据所述角度改变单元改变的角度，通过由所述光接收件测量的信号确定记录介质的类型。通过改变光的照射角和反射角，所述介质检测装置可以有效地检测记录介质的类型。
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公开(公告)号：CN1734373A
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN200510091468.7
申请日：2005-08-12
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 尹映重
CPC classification number: B41J2/325
Abstract: 本发明提供了一种方法和装置，用于调整使用两个加热头的成像设备的对准，其中该方法包括步骤：(a)分别使用第一和第二加热头在介质上打印第一和第二预定图案，(b)通过使用打印的图案来检测第一和第二加热头之间的打印位置距离差；和(c)根据所检测的距离差，变换加热头打印的图像数据，从而以子像素单位调整对准。因此，可以通过检测加热头的打印位置之间的距离差，和将目标图像数据移动所检测的距离差，来补偿加热头的打印位置距离差。结果是，可以轻松地和精确地调整加热头的对准。
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