公开(公告)号：CN102169926B

公开(公告)日：2014-05-28

申请号：CN201010576054.4

申请日：2010-12-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 林双根 ,  高升奎 ,  权大甲 ,  安珠勋 ,  池元秀

IPC: H01L33/00 ,  G01N21/88

CPC classification number: H01L21/67271 ,  G09G3/14 ,  H01L21/67259 ,  H01L21/67282 ,  H01L21/67294 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明公开了一种用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的方法。用于检测发光二极管(LED)封装件的设备被设置为检测LED以确定其是否有缺陷，并在LED有缺陷时废弃该LED。用于检测LED封装件的设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测LED，以确定LED是否有缺陷；缺陷产品报废单元，废弃从检测单元提供的LED中的基于检测单元的检测结果被确定为有缺陷的LED。因为检测LED和废弃缺陷LED的操作自动进行并能够作为连续工艺快速地处理，所以能够提高生产率。