公开(公告)号：CN103842834B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201280049282.3

申请日：2012-10-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金廷珉 ,  徐建荣 ,  梁光模 ,  姜秉焕 ,  朴凤熙

IPC: G01R29/08

Abstract: 提供了用于测量电子设备的性能的方法和装置。所述装置包括：电磁波测量设备，用于测量电子设备的电磁波的实际电平；以及分析控制器，用于向电磁波的实际电平应用先前存储的电平改变值来计算电磁波的测量电平。在不使用根据国际标准建议的设备的情况下，用于测量电子设备的性能的方法和装置可以容易地测量电子设备的电磁波电平。

公开(公告)号：CN103842834A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201280049282.3

申请日：2012-10-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金廷珉 ,  徐建荣 ,  梁光模 ,  姜秉焕 ,  朴凤熙

IPC: G01R29/08

Abstract: 提供了用于测量电子设备的性能的方法和装置。所述装置包括：电磁波测量设备，用于测量电子设备的电磁波的实际电平；以及分析控制器，用于向电磁波的实际电平应用先前存储的电平改变值来计算电磁波的测量电平。在不使用根据国际标准建议的设备的情况下，用于测量电子设备的性能的方法和装置可以容易地测量电子设备的电磁波电平。