公开(公告)号：CN110060228A

公开(公告)日：2019-07-26

申请号：CN201811538781.4

申请日：2018-12-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 权男暎 ,  姜孝馨 ,  金容德

IPC: G06T7/00 ,  G06K9/62

Abstract: 一种半导体缺陷分类设备包括：特征提取器，被配置为接收晶片上的半导体图案的图像并从图像中提取该图像的特征；以及分类器，被配置为接收该图像的特征和与晶片相关的第一元信息，并使用机器学习来基于该图像的特征和第一元信息对与图像相关联的半导体图案的缺陷进行分类。

公开(公告)号：CN112002309A

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN201911326890.4

申请日：2019-12-20

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 罗辉栋 ,  姜孝馨 ,  金好庆 ,  李镐式

IPC: G10L15/06 ,  G10L25/30

Abstract: 公开了一种模型训练方法和设备，其中，模型训练方法针对输入序列获取教师模型的识别结果和学生模型的识别结果，并且训练学生模型，使得教师模型的识别结果和学生模型的识别结果彼此无法被区分。