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公开(公告)号:CN114497005A
公开(公告)日:2022-05-13
申请号:CN202110898246.5
申请日:2021-08-05
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 姜兑昊
IPC: H01L25/065 , H01L21/50 , H01L23/31 , H01L23/538
Abstract: 可以提供一种半导体封装件,其包括:第一下堆叠件,位于基板上并包括第一下半导体芯片;再分布基板,位于第一下堆叠件上;再分布连接件。将基板电连接到再分布基板;第一上堆叠件,位于再分布基板上并包括第一上半导体芯片;第一上连接件,将再分布基板电连接到第一上堆叠件;第二上堆叠件,与第一上堆叠件水平地间隔开并包括第二上半导体芯片;以及第二上连接件,将再分布基板电连接到第二上堆叠件。再分布连接件可以位于再分布基板的一侧上。第一上连接件可以位于第一上堆叠件的一侧。第二上连接件可以位于第二上堆叠件的一侧。
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公开(公告)号:CN108010886B
公开(公告)日:2023-03-28
申请号:CN201711062541.7
申请日:2017-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/31 , H01L23/488 , H01L23/528 , H01L21/60
Abstract: 提供半导体封装件和制造半导体封装件的方法,所述半导体封装件包括:成型基底;至少一个第一半导体芯片,位于成型基底中并包括芯片焊盘;布线结合焊盘,形成在成型基底的第一表面处并通过结合布线连接到芯片焊盘;以及再分布布线层,覆盖成型基底的第一表面并包括连接到布线结合焊盘的再分布布线。
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公开(公告)号:CN108010886A
公开(公告)日:2018-05-08
申请号:CN201711062541.7
申请日:2017-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/31 , H01L23/488 , H01L23/528 , H01L21/60
Abstract: 提供半导体封装件和制造半导体封装件的方法,所述半导体封装件包括:成型基底;至少一个第一半导体芯片,位于成型基底中并包括芯片焊盘;布线结合焊盘,形成在成型基底的第一表面处并通过结合布线连接到芯片焊盘;以及再分布布线层,覆盖成型基底的第一表面并包括连接到布线结合焊盘的再分布布线。
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