半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN117457621A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202310904212.1

    申请日:2023-07-21

    Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底,具有第一区域和第二区域;第一器件,在第一区域中位于基底上;第二器件,在第二区域中位于基底上;正面互连结构,在基底的正面上且包括电连接到第一器件和第二器件的多个互连层;以及背面掩埋互连结构,与基底的背面相邻,基底的背面与基底的正面相对。背面掩埋互连结构包括背面掩埋绝缘层和背面掩埋导电层,背面掩埋绝缘层位于从基底的背面朝向基底的正面凹陷的沟槽中,背面掩埋导电层位于背面掩埋绝缘层中。背面掩埋互连结构位于第一区域或第二区域中。

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