半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118175839A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202311673320.9

    申请日:2023-12-07

    Abstract: 一种半导体器件,包括:有源图案,该有源图案设置在衬底上;栅极结构,该栅极结构设置在有源图案上;位线结构,该位线结构设置在有源图案上并且包括彼此堆叠的第一导电图案、第二导电图案和绝缘结构;下间隔物结构,该下间隔物结构设置在位线结构的侧壁上;上间隔物结构,该上间隔物结构设置在下间隔物结构上,其中,上间隔物结构设置在位线结构的侧壁的上部部分上;接触插塞结构,该接触插塞结构设置在有源图案上,其中,接触插塞结构与位线结构间隔开;以及电容器,该电容器设置在接触插塞结构上,其中,下间隔物结构包括第一间隔物和第二间隔物,该第一间隔物部分覆盖第一导电图案的侧壁并且包括空气,该第二间隔物设置在第一间隔物上。

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