公开(公告)号：CN114282342A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111322071.X

申请日：2021-11-09

Applicant: 三星(中国)半导体有限公司 ,  三星电子株式会社

Inventor： 郝雯雯 ,  权勇雄 ,  刘娜 ,  罗寅 ,  高灿奎 ,  斗李宁 ,  王璐 ,  沈荣燮

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 提供了一种存储装置的故障预测方法和装置，所述方法包括：将实时采集的所述存储装置的SMART数据输入到多个基分类模型中的每个基分类模型，以获取每个基分类模型输出的针对实时采集的所述存储装置的SMART数据的分类结果，其中，每个基分类模型利用多个存储装置的历史SMART数据和/或在线采集的所述多个存储装置的SMART数据训练而获得；基于多个基分类模型的分类结果确定实时采集的所述存储装置的SMART数据是健康数据还是故障数据；基于预定时间窗口内采集到的所述存储装置的SMART数据被确定为健康数据的SMART数据的数量和被确定为故障数据的SMART数据的数量来预测所述存储装置是否将出现故障。