多层测试柱
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1273638A

    公开(公告)日:2000-11-15

    申请号:CN99801011.1

    申请日:1999-06-23

    Inventor: 陈叔奇

    Abstract: 一种多层测试柱,其具有一个腔室,该腔室具有一个纵向轴并在其第一端具有一个第一孔。腔室内部竖直地堆叠着多个薄膜层,这些薄层至少包含多个固态衬底,每个衬底携带一种不同的抗被分析物。一样品被放置在腔室中,以便使样品中的特殊被分析物被结合抗被分析物上。随后使用一个传感器,以接收来自衬底的信号并产生一个相应的电信号。

    多层测试柱
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1158530C

    公开(公告)日:2004-07-21

    申请号:CN99801011.1

    申请日:1999-06-23

    Inventor: 陈叔奇

    Abstract: 一种多层测试柱,其具有一个腔室,该腔室具有一个纵向轴并在其第一端具有一个第一孔。腔室内部竖直地堆叠着多个薄膜层,这些薄层至少包含多个固态衬底,每个衬底携带一种不同的抗被分析物。一样品被放置在腔室中,以便使样品中的特殊被分析物被结合在抗被分析物上。随后使用一个传感器,以接收来自衬底的信号并产生一个相应的电信号。

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