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公开(公告)号:CN104034802B
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201410243103.0
申请日:2014-06-03
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N29/04
CPC classification number: G01N29/44 , G01N29/04 , G01N29/262 , G01N2291/023 , G01N2291/0289 , G01N2291/044 , G01N2291/106
Abstract: 本发明提供了一种提升面阵探头分辨率的检测方法,包括如下步骤:步骤一,在超声波面阵探头上具有N个晶片,并且N个所述晶片以面阵的形式排列;步骤二,芯片控制晶片a发射m次脉冲波射向待测工件;步骤三,被所述待测工件反射回来的脉冲波被晶片a和与晶片a相邻的m-1个晶片依次分别接收;步骤四,当所述N个晶片都发射m次脉冲波,并且经所述待测工件反射回来的脉冲波被全部接收;步骤五,重复步骤一至步骤四的过程,直至探伤完毕;步骤六,主机将接收到的脉冲波经分析处理后得出待测工件的缺陷图形,并通过主机上的显示器显示出来。本发明具有大大提高面阵探测仪的分辨率的优点。
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公开(公告)号:CN107014898A
公开(公告)日:2017-08-04
申请号:CN201610058805.0
申请日:2016-01-28
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
CPC classification number: G01N29/00 , G01N29/22 , G01N2291/02854 , G01N2291/0289
Abstract: 本发明公开了一种探测装置,包括超声波探头,固定框,连接在固定框一侧表面上的X向引线,以及连接在固定框背向X向引线一侧表面上的Y向引线;超声波探头分别与X向引线和Y向引线连接;X向引线沿X轴方向延伸,若干个X向引线沿Y轴方向依次排列;Y向引线沿Y轴方向延伸,若干个Y向引线沿X轴方向依次排列;若干个超声波探头以二维矩阵的方式排列在固定框内部。本发明的优点和有益效果在于:本发明提供一种探测装置,避免了现有技术中由于需对各超声波探头的单独控制而使用复杂布线的情况,提高了探测装置的可靠性,并极大的降低了探测装置的制造及使用成本。
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公开(公告)号:CN106290472A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201510246039.6
申请日:2015-05-14
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
Abstract: 本发明公开了一种检测焊点精度的方法,包括以下步骤:对焊点进行编号;向焊点通入电压及电流;采集通过焊点的编号信息、电压值信号和电流值信号;通过数据处理设备对通过焊点的电压值和电流值进行计算,获得焊点的功率值;在数据处理设备设置门限值,门限值具有一上限和一下限;数据处理设备判断焊点的功率值是否在门限值的上限及下限的范围内;不在门限值的上限及下限范围内的焊点为功率不合格焊点。采用上述技术方案通过检测点焊焊接的电压电流与超声波检测技术结合,精确确定虚焊位置,实现了增强检测焊点精度,提高虚焊检出率的效果。
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公开(公告)号:CN106442709A
公开(公告)日:2017-02-22
申请号:CN201510469526.9
申请日:2015-08-04
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N27/90
Abstract: 本发明公开了一种焊点检测的装置,包括基座、通电线圈、探测线圈和控制处理装置;在通电线圈通入交流电,通电线圈输出磁场,探测线圈通过接收磁场产生探测电流,并将探测电流输出至控制处理装置。一种焊点检测的方法,包括以下步骤:向通电线圈通入交流电,使试件的焊点产生涡流;通过探测线圈接收焊点位置的涡流的磁场,并转化成探测电流输出至控制处理装置;控制处理装置具有阈值范围,并判断探测电流是否在阈值范围内。本发明的优点和有益效果在于:本发明提供一种焊点检测的装置及方法,实现了准确判断焊点虚焊的大小、深度及位置,并对虚焊焊点进行标记的效果,极大的提高了焊点质量检测工作的效率,且操作简单,成本低廉。
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公开(公告)号:CN104034802A
公开(公告)日:2014-09-10
申请号:CN201410243103.0
申请日:2014-06-03
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N29/04
CPC classification number: G01N29/44 , G01N29/04 , G01N29/262 , G01N2291/023 , G01N2291/0289 , G01N2291/044 , G01N2291/106
Abstract: 本发明提供了一种提升面阵探头分辨率的检测方法,包括如下步骤:步骤一,在超声波面阵探头上具有N个晶片,并且N个所述晶片以面阵的形式排列;步骤二,芯片控制晶片a发射m次脉冲波射向待测工件;步骤三,被所述待测工件反射回来的脉冲波被晶片a和与晶片a相邻的m-1个晶片依次分别接收;步骤四,当所述N个晶片都发射m次脉冲波,并且经所述待测工件反射回来的脉冲波被全部接收;步骤五,重复步骤一至步骤四的过程,直至探伤完毕;步骤六,主机将接收到的脉冲波经分析处理后得出待测工件的缺陷图形,并通过主机上的显示器显示出来。本发明具有大大提高面阵探测仪的分辨率的优点。
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公开(公告)号:CN106442709B
公开(公告)日:2020-12-22
申请号:CN201510469526.9
申请日:2015-08-04
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N27/90
Abstract: 本发明公开了一种焊点检测的装置,包括基座、通电线圈、探测线圈和控制处理装置;在通电线圈通入交流电,通电线圈输出磁场,探测线圈通过接收磁场产生探测电流,并将探测电流输出至控制处理装置。一种焊点检测的方法,包括以下步骤:向通电线圈通入交流电,使试件的焊点产生涡流;通过探测线圈接收焊点位置的涡流的磁场,并转化成探测电流输出至控制处理装置;控制处理装置具有阈值范围,并判断探测电流是否在阈值范围内。本发明的优点和有益效果在于:本发明提供一种焊点检测的装置及方法,实现了准确判断焊点虚焊的大小、深度及位置,并对虚焊焊点进行标记的效果,极大的提高了焊点质量检测工作的效率,且操作简单,成本低廉。
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公开(公告)号:CN204302237U
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201420701168.0
申请日:2014-11-20
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N29/22
Abstract: 本实用新型提出了一种便携式焊点检测仪,包括检测仪,外壳和支撑架,检测仪包括显示屏幕和电池安装板,外壳套设在检测仪外,并露出显示屏幕和电池安装板,支撑架通过铰链件设置在检测仪上。通过支撑架固定检测仪,同时通过使用外壳使检测仪避免与油污等直接接触,有效保护了检测仪,并有效延长检测仪的使用寿命。
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公开(公告)号:CN204271371U
公开(公告)日:2015-04-15
申请号:CN201420701173.1
申请日:2014-11-20
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: H01R13/646 , H01R13/719 , H01R13/66 , H01R24/00
Abstract: 本实用新型提供了一种数据连接器,包括插头、与所述插头相匹配的插座和CPU,所述插座上具有对角设置的数据读取管脚和插入检测管脚,所述插头上设置有与数据读取管脚位置相对应的数据插针,所述插头上还设置有与插入检测管脚位置相对应的电平插针,所述数据读取管脚、插入检测管脚均与CPU相连接。本实用新型在插头与插座连接牢固后再读取与插头连接的设备信息,确保了数据读取的连续性,防止读取设备信息的缺失。
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公开(公告)号:CN204374143U
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201420701413.8
申请日:2014-11-20
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N27/90
Abstract: 本实用新型提出了一种电磁无损检测仪系统,包括控制器、继电器换向、电磁线圈、霍尔元件、AD模块和数控电源,控制器、继电器换向、电磁线圈、霍尔元件和AD模块依次首尾连接,数控电源与控制器连接。在不破坏材质和使用性能的条件下实现检测,具有方便、快捷、非破坏性和抗干扰性好等优点。
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公开(公告)号:CN205749454U
公开(公告)日:2016-11-30
申请号:CN201620555908.3
申请日:2016-06-08
Applicant: 艾因蒂克检测科技(上海)有限公司
Inventor: 张瑞
IPC: G01N33/00
Abstract: 本实用新型公开了一种新型扫查设备,包括具有检测探头的扫查装置、电子罗盘和定位器,所述电子罗盘和定位器固定在所述扫查装置上,所述定位器对所述扫查装置的位置进行定位,所述电子罗盘与所述检测探头连接,用于校准所述检测探头的方位角。本实用新型的优点和有益效果在于:通过利用定位器对扫查装置的位置进行定位,降低了扫查装置的定位误差;通过利用电子罗盘对检测探头的方位角进行校准,精准确定扫查装置的检测探头的方位角,提高了新型扫查设备的探测精度,还提高了新型扫查设备的检测效率,降低了漏检的概率;同时,新型扫查设备的结构简单,制造成本低且重量轻便,为工作人员的探测工作提供了便利。
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