公开(公告)号：CN101517436A

公开(公告)日：2009-08-26

申请号：CN200780035345.9

申请日：2007-07-24

Applicant: 格拉茨技术大学 ,  格拉茨技术大学研究控股有限公司

Inventor： 赫尔曼·沙尔夫特

IPC: G01V3/10 ,  A61B5/05

CPC classification number: G01V3/104 ,  A61B5/05 ,  A61B5/0522

Abstract: 一种磁感应断层成像方法和设备，其中带有非均匀被动电特性的物体通过位于不同位置的激励线圈暴露在交变磁场中，从中位于不同接收位置的接收线圈拾取包含关于电导率及其于物体中的分布的信息的交流电信号，物体内部空间电特性的图像从接收信号的振幅和相位重建，而在至少两个不同频率(f1，f2)和线圈和/或场几何结构的一附加扰动(Vre)上进行测量以确定一校正系数(γ)，用此校正系数可基本消除在物体测量期间因几何结构变化而产生的乱真信号(伪影)。

公开(公告)号：CN101517436B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200780035345.9

申请日：2007-07-24

Applicant: 格拉茨技术大学 ,  格拉茨技术大学研究控股有限公司

Inventor： 赫尔曼·沙尔夫特

IPC: G01V3/10 ,  A61B5/05

CPC classification number: G01V3/104 ,  A61B5/05 ,  A61B5/0522

Abstract: 一种磁感应断层成像方法和设备，其中带有非均匀被动电特性的物体通过位于不同位置的激励线圈暴露在交变磁场中，从中位于不同接收位置的接收线圈拾取包含关于电导率及其于物体中的分布的信息的交流电信号，物体内部空间电特性的图像从接收信号的振幅和相位重建，而在至少两个不同频率(f1，f2)和线圈和/或场几何结构的一附加扰动(Vre)上进行测量以确定一校正系数(γ)，用此校正系数可基本消除在物体测量期间因几何结构变化而产生的乱真信号(伪影)。