-
公开(公告)号:CN102022985A
公开(公告)日:2011-04-20
申请号:CN201010283895.6
申请日:2010-09-13
Applicant: 学校法人福冈工业大学 , 株式会社3D图像研究所
Inventor: 卢存伟
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供一种三维信息测量装置和三维信息测量方法,除了可用于金属或陶瓷器之外,还可用于汽车或其部件等具有光泽涂装等表面反射强烈的测量对象物,使用图形光投影技术进行三维信息的测量。其中包括:以不直接将图形光照射到测量对象物上的方式进行投影的图形光投影设备(1);反射由图形光投影设备(1)投影后的图形光并将其影到测量对象物(A)上的反射板(2);对被反射板(2)反射了的图形光投影后的测量对象物(A)进行摄像而取得投影图形图像照相机设备(3),且照相机设备(3)的镜头的光轴与由反射板(2)反射后的图形光的投影方向不同;以及从投影图形图像计算出测量对象物(A)的三维信息的数据处理装置(4)。
-
公开(公告)号:CN113640296A
公开(公告)日:2021-11-12
申请号:CN202110463568.7
申请日:2021-04-25
Applicant: 学校法人福冈工业大学 , 株式会社3D图像研究所
IPC: G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/956
Abstract: 本发明提供一种图像测量系统、一种图像测量方法、一种图像测量程序以及图像测量存储介质。本发明主要包括以下几个部分:向被测物体投射测量用图形光的图形光投影单元;使用第1焦点距离拍摄被测物体的第1图像、使用和第1焦点距离不同的第2焦点距离拍摄被测物体的第2图像的摄影单元;使用第1图像或第2图像中的一枚或两枚,对被测物体表面的色彩强度变化进行解析,进而检测出被测物体表面存在的没有立体形状变化的二维缺陷的二维缺陷检出单元;使用第1图像或第2图像中的一枚或两枚,对被被测物体表面所反射的测量用图形光的强度变化进行解析,进而检测出被测物体表面存在的伴随着立体形状变化的三维缺陷的三维缺陷检出单元。
-
公开(公告)号:CN102022985B
公开(公告)日:2015-02-11
申请号:CN201010283895.6
申请日:2010-09-13
Applicant: 学校法人福冈工业大学 , 株式会社3D图像研究所
Inventor: 卢存伟
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明提供一种三维信息测量装置和三维信息测量方法,除了可用于金属或陶瓷器之外,还可用于汽车或其部件等具有光泽涂装等表面反射强烈的测量对象物,使用图形光投影技术进行三维信息的测量。其中包括:以不直接将图形光照射到测量对象物上的方式进行投影的图形光投影设备(1);反射由图形光投影设备(1)投影后的图形光并将其影到测量对象物(A)上的反射板(2);对被反射板(2)反射了的图形光投影后的测量对象物(A)进行摄像而取得投影图形图像照相机设备(3),且照相机设备(3)的镜头的光轴与由反射板(2)反射后的图形光的投影方向不同;以及从投影图形图像计算出测量对象物(A)的三维信息的数据处理装置(4)。
-
-