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公开(公告)号：CN102565097A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110435104.1
申请日：2008-03-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域，提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统，解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括：X光检测设备，用于对被检物体进行X光辐射成像检查；放射性物质监测设备，用于检测所述被检物体发出的放射性射线；以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成，大大节约了空间、时间资源，避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。
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公开(公告)号：CN102023306A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200910092559.0
申请日：2009-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量监测装置，其中所述X射线辐射成像系统包括：加速器X射线源；对X射线进行准直的准直器；和检测探测器，所述X射线剂量监测装置包括：X射线剂量监测探测器，其中基于X射线剂量监测探测器监测到的X射线辐射剂量对检测探测器测量到的X射线剂量进行校正。X射线剂量监测探测器设置在准直器的准直缝的至少一侧上，用于监测从加速器辐射出的X射线的剂量。其通过改变剂量监测点的位置，将监测剂量探测器设置在准直器上，该监测探测器离加速器靶点很近，其接受的加速器剂量率很高，从而确保数据具有很高的统计性，同时又不阻挡正常束流，从而不会降低检测探测器的探测数据的统计性。
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公开(公告)号：CN101576531A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200810106169.X
申请日：2008-05-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N27/62
CPC classification number: G01N27/622
Abstract: 本发明公开了一种离子迁移谱检测方法，通过获取纯载气进样时的离子迁移谱和含测试物样品的离子迁移谱；以及将所述纯载气进样时的离子迁移谱和所述含物质样品的离子迁移谱进行差分处理以获得差分谱，所述差分谱的特征峰值表征了所述物质样品的属性，并避免仪器自身干扰源对迁移谱的干扰，由此提高了离子迁移谱检测的灵敏度和准确度；以及通过对纯载气迁移谱的差分处理，可以发现并修正因环境条件变化而引起的迁移谱漂移，从而实现离子迁移谱仪的自稳定和自修正。本发明还公开了采用该方法的离子迁移谱检测器和离子迁移谱仪。
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公开(公告)号：CN114518607A
公开(公告)日：2022-05-20
申请号：CN202011308374.1
申请日：2020-11-19
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请实施例提供了一种对象检测方法和系统。对象检测方法，包括：获取待检测对象在被中子束照射的情况下放射出的伽马射线的射线特征信息；基于所述伽马射线的射线特征信息得到所述待检测对象的伽马射线能谱图和核素空间分布图；根据所述伽马射线能谱图和所述核素空间分布图确定所述待检测对象的检测结果。根据本申请实施例的对象检测方法，可以提高检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN107991328A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711440361.8
申请日：2017-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请涉及用于测量脱空信息的方法、装置及系统，属于勘测检测技术领域。该用于测量脱空信息的方法包括：获取被检物的反散射信号；将所述被检物的反散射信号与标定的反散射信号对比，获取信号变化信息；根据所述信号变化信息获得所述被检物的脱空信息。根据本申请的用于测量脱空信息的方法、装置及系统、电子设备和计算机可读介质通过探测被检物的反散射信号，能够实现被检物的脱空信息的检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105628006A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610069112.1
申请日：2016-02-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01C15/00 , G01N23/083
CPC classification number: G01N23/083 , G01N23/02 , G01N2223/316 , G01C15/004
Abstract: 本发明提供一种准直装置和射线检查装置。准直装置包括：导束筒和安装在导束筒入口端的第一准直器和安装在导束筒出口端的第二准直器。还包括导束筒调节装置，用于调节导束筒的朝向以便第一准直器对准第一方向。导束筒出口端被固定在机架上并且第二准直器对准辐射束要照射的目标，并且导束筒具有挠性允许导束筒调节装置能够沿第一方向的横向方向调整导束筒入口端的朝向。本发明仅需调整第一准直器即完成准直调节。
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公开(公告)号：CN103257358B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310093849.3
申请日：2007-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/40
Abstract: 提供了一种多道谱仪中使用的多道脉冲分析器，包括标准能谱刻度器，用于获得所述多道谱仪的能量刻度参数；环境本底谱刻度器，用于获得当前和先前的环境本底能谱参数；峰漂检测器，用于对当前和先前环境本底能谱参数进行分析以确定二者之间是否出现峰漂，并且确定峰漂修正系数；以及参数修正器，用于利用所述峰漂修正系数修正所述多道谱仪的能量刻度参数。还提供了由该多道脉冲分析器采用的修正方法。该多道谱仪峰漂修正方法和多道脉冲分析器可以比较方便地对多道谱仪峰漂进行实时修正和监控。
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公开(公告)号：CN105223625A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510751171.2
申请日：2015-11-06
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种导束装置，用于导束辐射检查设备中的射线束，所述导束装置设置于所述辐射检查设备的外壳内，并且所述导束装置的两端分别连接前准直器和后准直器，所述导束装置包括多个导束壁和由所述导束壁围成的导束腔，所述导束壁由能够吸收射线的第一材料形成或所述导束壁的内侧涂覆有能够吸收射线的第一材料，所述导束腔具有沿从所述后准直器至所述前准直器的方向延伸的中心轴线，所述导束装置还包括设置于所述导束装置的导束腔中的至少一个翼翅板，所述至少一个翼翅板用于阻挡和/或吸收散射射线。
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公开(公告)号：CN104062688A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410317395.8
申请日：2014-07-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0025 , G01N23/203 , G01V5/0066
Abstract: 本发明提供一种X射线背散射通道式安检系统，包括：一个或多个背散射检测子系统，配置为通过出射X射线至被检查对象上并且通过检测散射信号对被检查对象实施检测；控制系统，配置为根据被检查对象的尺寸实时调整相应的背散射检测子系统与被检查对象的侧面的被照射X射线位置之间的距离，使得检测的散射信号被优化。本发明的安检系统可以适应不同尺寸或不同形状的被检测对象，而且增强了背散射图像信号。
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公开(公告)号：CN101539557B
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN200810102141.9
申请日：2008-03-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域，提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统，解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括：X光检测设备，用于对被检物体进行X光辐射成像检查；放射性物质监测设备，用于检测所述被检物体发出的放射性射线；以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成，大大节约了空间、时间资源，避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。
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