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公开(公告)号:CN1081511A
公开(公告)日:1994-02-02
申请号:CN93107141.0
申请日:1993-06-22
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明提供一种对高压电子铝箔{100}面织构占有率的定量检测方法。根据X线测得的Shoo(α,β)、Shho(α,β)或Shhh(α,β)数据,对反映{100}面织构的衍射强度峰按用最小二乘法求出So和b常数。然后用计算(100)面织构占有率。衍射强度峰的散布宽度本发明的优点是所需测试的数据少,计算简单,便于现场生产在线检验,并同时给出(100)面织构占有率V%和衍射强度峰的散布宽度θh。
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