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公开(公告)号：CN115166704A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210883018.5
申请日：2022-07-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明实施例涉及电磁散射技术领域，特别涉及一种目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质。该方法应用于太赫兹波时域光谱RCS测量系统，所述RCS测量系统包括太赫兹波产生单元、太赫兹波传输单元和太赫兹波探测单元；所述方法包括：根据所述太赫兹波时域光谱RCS测量系统各所述单元的设备配置以及测试时的室内环境，确定影响所述目标RCS不确定度的关键因素；确定每一个所述关键因素对应的不确定度分量；根据每一个所述不确定度分量，确定出所述目标的RCS不确定度。本发明实施例提供的目标RCS不确定度的确定方法、装置、设备及介质，能够准确地确定太赫兹波时域光谱RCS测量系统的目标RCS不确定度。
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公开(公告)号：CN113993264A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111303436.4
申请日：2021-11-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/28
Abstract: 本申请涉及换热技术领域，尤其涉及一种等离子体炬及其冷却方法。该等离子体炬包括等离子体炬本体和冷却组件，其中，等离子体炬本体包括喷头、钨针、内壳和外壳，喷头和钨针的极性相反，钨针设置于内壳内，内壳设置于外壳内，钨针和内壳之间形成气腔，内壳和外壳之间形成冷却腔，外壳上设置有进液管和出液管，进液管和出液管分别与冷却腔连通；冷却组件设置于冷却腔内，用于改变液体在冷却腔内的流向，以增加液体在冷却腔内的流程。本申请提供的等离子体炬换热效果好，管壁不易超温，工作状态稳定，可连续工作，使用寿命长。
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公开(公告)号：CN113038678A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110257733.3
申请日：2021-03-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种基于太赫兹时域光谱的等离子体密度测量方法，包括：利用太赫兹时域光谱系统分别测量无等离子体时的参考时域光谱和有等离子体时的样品时域光谱；对参考时域光谱和样品时域光谱分别进行傅立叶变换，得到对应的参考频谱和样品频谱；根据样品频谱与参考频谱的相位差和频谱幅度之比，结合等离子体的厚度，确定等离子体的介电常数的实部；基于等离子体的介电常数的实部，计算等离子体密度。本发明能够实现等离子体密度无接触式实时测量，可以为等离子体研究提供重要的参数输入与技术支持。
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公开(公告)号：CN104749130B
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201410725020.5
申请日：2014-12-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹时域光谱系统的快速扫描方法，包括：基于控制装置的读取命令，在读取时间段中，锁相放大器同时从扫描振镜读取扫描振镜的位置驱动电压和从光电平横探测器读取差分电流信号；锁相放大器将读取位置驱动电压和差分电流信号作为一个数据元发送给控制装置；控制装置的采集单元将数据元依次缓存入由预创建的数据队列中；控制装置的处理单元从所述数据队列中提取缓存的数据元，将数据元中的差分探测器的差分电流作为太赫兹时域波形的纵坐标，将扫描振镜的位置驱动电压转化成太赫兹脉冲的持续时间作为太赫兹时域波形的横坐标进行实时显示，并在处理之后从数据队列中删除该提取的数据元。
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公开(公告)号：CN104316488B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201410522061.4
申请日：2014-09-30
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种违禁物品检测方法和装置，包括：采集设定含量的待检物品的吸收谱数据；对于每种干扰样本，确定出预先设定的各种含量占比的该干扰样本的吸收谱数据；对于每种干扰样本，针对预先设定的每种含量占比，根据该含量占比的该干扰样本的吸收谱数据对采集的待检物品的吸收谱数据进行解谱，得到待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据；对于每种违禁物品，针对预先设定的每种含量占比，将待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据与设定含量的该种违禁物品的标准品的吸收谱数据进行比对，根据比对结果判断所述待检物品是否为该种违禁物品。应用本发明，可以检测出包含有干扰物的待检物品是否为违禁物品。
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公开(公告)号：CN106841094A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710002309.8
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G01J3/433
CPC classification number: G01N21/3586 , G01J3/433
Abstract: 本发明公开了一种提高太赫兹时域光谱系统频谱分辨率的方法，包括：将太赫兹时域光谱系统中的电光晶体设计为楔形，电光晶体的前表面与探测激光的光轴垂直、后表面与探测激光的光轴形成夹角；使用吸波体遮挡住在电光晶体内震荡后出射的探测激光。本发明通过设计电光晶体的切割角度能够改变激光在晶体后表面的传播方向，避免了在晶体内多次震荡的探测激光与太赫兹波发生多次重复相互作用后进入探测器，能够从系统回波产生的根源处着手消除回波，增加有效的太赫兹波测量数据，提高太赫兹时域光谱系统的频谱分辨率。
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公开(公告)号：CN106092966A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610366147.1
申请日：2016-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/41
CPC classification number: G01N21/41
Abstract: 公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法，包括：选取M种泡沫材料作为测试样品；对于选取的每种泡沫材料，通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er,i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es,i(t)；对Er,i(t)、Es,i(t)进行傅里叶变换，以获取频域光谱Er,i(w)、Es,i(w)；然后，根据Er,i(w)、Es,i(w)、以及泡沫材料的厚度di，计算该泡沫材料的折射率谱ni(w)；对于选取的每种泡沫材料，计算其折射率谱的折射率均值以及的值，并且，将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术，便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性，进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。
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公开(公告)号：CN208860738U
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201821653179.0
申请日：2018-10-12
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本实用新型涉及一种太赫兹频谱校准系统，包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具，该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡，对太赫兹时域光谱进行频率校准，并且，该系统通过引入准直光路，利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准，使得太赫兹波与标准量具垂直，减小由非垂直入射引起的频谱误差，有效提高系统的准确性和可靠性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209014468U
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201821696730.X
申请日：2018-10-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/47
Abstract: 本实用新型涉及一种太赫兹波段反射弓形架装置，包括弧形导轨、第一直线导轨、第二直线导轨、高度可调样品架组件、太赫兹发射组件、太赫兹接收组件、距离调节组件、锁紧组件、背板和密闭组件。该装置能够实现不同反射角度条件下材料反射率的测试，同时减少了系统调节时间，保证了样品的定位精度，通过该装置可以快速准确地获取太赫兹特征指纹谱数据。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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