公开(公告)号：CN102042874A

公开(公告)日：2011-05-04

申请号：CN201010535514.9

申请日：2010-11-04

Applicant: 中国科学院光电技术研究所

Inventor： 黄林海 ,  饶长辉 ,  姜文汉

IPC: G01J1/42

Abstract: 本发明是基于光强调制器的远场光束质量测量装置，由成像系统、光强调制器、光强探测器和计算机组成。光束首先通过成像系统，汇聚于光强调制器处，经光强调制器后的光将进入光强探测器，并由光强探测器捕获，最终由光强探测器通过计算机输出用以反映光束质量的数值。利用光强探测器结合光强调制器的形式测量光束质量，具有结构简单、制作容易、速度快，响应灵敏度高、探测精度高等特点；可作为高速自适应光学系统进行实时闭环的性能评判指标。

公开(公告)号：CN101806957A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN201010121435.3

申请日：2010-03-10

Applicant: 中国科学院光电技术研究所

Inventor： 顾乃庭 ,  杨泽平 ,  黄林海 ,  饶长辉

IPC: G02B26/06 ,  G01J9/02

Abstract: 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置，由波前传感器、波前记录器、波前校正器、能够平移和旋转的电控平移台、位置失配评估器、平移台控制器和计算机组成；通过计算机给波前校正器独立单元施加电压的方式标记波前校正器的位置，利用波前传感器自身的波前探测能力测量波前传感器与波前校正器之间的位置失配。光束经波前校正器反射后进入波前传感器，由波前记录器记录波前传感器探测到的波前校正器面形信息，位置失配评估器根据波前记录器记录信息计算并输出位置失配数据到平移台控制器中，最后由平移台控制器控制电控平移台完成对波前传感器的位置调整。本发明能够准确对准波前传感器与波前校正器的位置，大大提高两者对准精度和对准效率，保证自适应系统的波前控制能力。