公开(公告)号：CN114354656A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202111486993.4

申请日：2021-12-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李键坷 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  彭超 ,  黄云 ,  路国光 ,  谭旭

IPC: G01N23/00

Abstract: 本发明公开了一种系统级样品试验系统及试验方法，屏蔽体用于屏蔽辐射，屏蔽体内设有试验空间，屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体，样品位移台可移动设置，使样品位移台能够进入或离开试验空间，样品位移台包括基座、样品台及调整机构，调整机构用于调整样品台相对基座的高度。可将样品位移台置于屏蔽体外，并将样品置于样品台上固定，利用调整机构预调整样品台上样品的高度，随后可将样品位移台移动至试验空间内，样品位移台移动至试验空间内后不再调整或只需进行细微调整样品的位置，可减少操作人员及样品位移台在试验空间内的停留时间，能够减少辐射试验对人体及样品位移台的伤害，具有更好的安全性。

公开(公告)号：CN113077850A

公开(公告)日：2021-07-06

申请号：CN202110278942.6

申请日：2021-03-16

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 张战刚 ,  雷志锋 ,  黄云 ,  陈资文 ,  罗俊洋 ,  彭超 ,  何玉娟 ,  肖庆中 ,  李键坷 ,  路国光

IPC: G16C60/00 ,  G06K9/62 ,  G06F16/21

Abstract: 本申请涉及电子器件可靠性技术领域，具体公开一种电子材料中α源的识别方法、装置及可读存储介质。方法包括构建α粒子发射能谱数据库；测量目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱；对测量得到的目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱，及α粒子发射能谱数据库中的α粒子发射能谱网格化处理；将网格化处理后的目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱与网格化处理后的数据库中的α粒子发射能谱逐个比对得到匹配结果；根据匹配结果识别目标电子材料样品中的α源。即可从数据库中匹配出与目标电子材料样品表面的α粒子发射能谱最接近的能谱，以该能谱在数据库中所对应的α源作为目标电子材料样品中α源的识别结果，识别准确性较高，效率较高。

公开(公告)号：CN109696590B

公开(公告)日：2020-12-29

申请号：CN201811357663.3

申请日：2018-11-14

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 彭超 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  黄云 ,  恩云飞

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种电子器件软错误率评估方法和装置，所述方法通过根据10B同位素的含量判断所述电子器件对热中子是否敏感后，在不同的海拔高度处多次测试同一电子器件的总软错误率，达到分离高能中子、热中子和α粒子软错误率的目的。所有的软错误率都是根据真实大气环境下测试得到的软错误率计算出来的，结果更加可信。另外本发明避免了高能中子、热中子和α粒子软错误率的单独测量，从而规避了热中子和α粒子软错误率不易测量的缺点，大大降低了电子器件软错误率评估的复杂度和成本。

公开(公告)号：CN111929559A

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN202010626408.5

申请日：2020-07-02

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 彭超 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟

IPC: G01R31/265 ,  G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种大气中子导致的功率器件的失效率评估方法及装置。方法包括：获取功率器件在单能粒子源辐照下发生单粒子效应时功率器件的漏端偏压与单能粒子源的能量的对应关系，其中，功率器件偏置在关态，且功率器件的漏端连接漏端偏压，源端和栅端接地；根据功率器件的漏端偏压与单能粒子源的能量的对应关系，获取功率器件在散裂中子源辐照下的不同漏端偏压对应的单粒子效应截面；根据单粒子效应截面和功率器件应用时的环境数据获取功率器件工作在不同漏端偏压下的失效率。采用本方法能够提高评估失效率的准确性。

公开(公告)号：CN109657272A

公开(公告)日：2019-04-19

申请号：CN201811357662.9

申请日：2018-11-14

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 彭超 ,  恩云飞 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  黄云

IPC: G06F17/50

Abstract: 本公开涉及一种单粒子效应评估方法和装置。该方法包括：构建目标电路的三维电路模型，所述三维电路模型包含敏感区域；将所述三维电路模型输入核反应计算仿真软件中，获取在预定单粒子能量下所述敏感区域中产生的核反应次级离子；通过器件仿真软件获取所述核反应次级离子作用在所述敏感区域上输出的单粒子瞬态脉冲波形；将所述单粒子瞬态脉冲波形以等效电流源的形式加载到所述目标电路上，获取电路响应信息；以及通过所述电路响应信息对所述目标电路的单粒子效应进行评估。本公开中的方法能够精确量化产生大气中子单粒子效应的各个物理过程，并在此基础上对目标电路的单粒子效应进行评估。