-
公开(公告)号：CN104266981A
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201410432955.4
申请日：2014-08-28
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/31 , G01N21/3581
Abstract: 本发明公开了一种提高太赫兹波吸收光谱识别准确率的方法。该方法包括：根据待测物质的太赫兹波吸收光谱曲线，生成所述太赫兹波吸收光谱曲线的基线；从所述太赫兹波吸收光谱曲线中减去所述太赫兹波吸收光谱曲线的基线，得到待测物质的去斜率后的太赫兹波吸收光谱。通过使用本发明所提供的上述方法，从而可以有效地排除样品掺杂、样品粉末对太赫兹的散射以及太赫兹高频部分衰减对光谱识别所带来的干扰，有效地提高光谱识别准确率。
-
公开(公告)号：CN119688654A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411883365.3
申请日：2024-12-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/59 , G01N21/01 , G01N21/3581 , G01N21/35
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹全频段气体长程透射率测量方法，通过在密封气腔内构建折叠光路，在气腔内充入待测气体，气腔具有入射光学窗口和出射光学窗口，通过入射光学窗口向折叠光路提供待测频段的准直太赫兹波，太赫兹波经折叠光路多次反射增长在待测气体中的传输路程后，从出射光学窗口出射至能量采集装置，获得待测频段太赫兹波在气体传输后的能量，再测得待测频段太赫兹波在真空传输相同光程后的能量，两者相除获得待测频段太赫兹波在待测气体的透射率。通过更换不同频段的太赫兹波以及不同组分气体完成太赫兹全频段在相应气体中长程透射率测量。该方法通过折叠光路延长了在测试气体中的传输路程，同时极大的压缩了光路的体积，保证测量精度。
-
公开(公告)号：CN119688639A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411883292.8
申请日：2024-12-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/59
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹频段烟幕干扰效果成效评估方法及装置，属于太赫兹成像领域。通过设计一套长距离的太赫兹频段烟幕干扰特性测量装置，以使得产生路光程变大，能够在长距离的产生路上放置烟箱设备，使得太赫兹波能够穿透真实烟幕进行成像，并且设置产生路与探测路的光程差为激光周期的n倍，使得太赫兹波与探测光能够相遇，保证太赫兹波可被探测到，该成像评估方法可将烟幕对太赫兹波的衰减和散射效应同时纳入考量，由此利用真实且准确的测量结果对烟幕干扰特性进行评估，能够提高太赫兹频段烟幕干扰效果评估的准确性。
-
公开(公告)号：CN119667622A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411883595.X
申请日：2024-12-19
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及距离测量技术领域，尤其涉及一种降雨遮蔽目标太赫兹一维距离像测量装置。该装置包括降雨通道、太赫兹雷达、目标和转台。降雨通道是横截面为矩形的等截面通道，降雨通道设有多路降雨装置，每路降雨装置包括间隔设置降雨通道顶部的多个喷头，各路降雨装置之间并联且均单独控制。太赫兹雷达设置在降雨通道的前端外侧，且位于前端端面的中心延长线上。目标设置在降雨通道的后端外侧，且位于后端端面的中心延长线上，目标放置在转台随转台转动。太赫兹雷达和目标之间的距离满足：太赫兹雷达的雷达波束与降雨通道不发生干涉且完全覆盖目标。能够有效模拟降雨环境下太赫兹雷达工作状况，实现使用太赫兹雷达获取雨幕遮蔽下目标的一维距离像。
-
公开(公告)号：CN117538900A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311531090.2
申请日：2023-11-16
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及目标成像技术领域，特别涉及一种林下遮蔽目标试验模拟成像装置及方法，其中装置包括二维移动平台、目标、激光光源、树林模拟装置、光学探测器和数据处理装置；二维移动平台用于设置目标，并能够带动目标在二维平面内移动；激光光源和光学探测器分设于目标的两侧；光学探测器的主光轴垂直于二维移动平台能移动的二维平面；树林模拟装置设于光学探测器和目标之间；数据处理装置与光学探测器连接，用于获取目标在运动过程中光学探测器所采集到的一系列图像，并基于获取的图像，解算目标的几何信息。本发明能够实现试验模拟林下运动目标成像及测试过程。
-
Patent Agency Ranking
-
公开(公告)号：CN109030406B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN201811187004.X
申请日：2018-10-12
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频谱校准系统，包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具，该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡，对太赫兹时域光谱进行频率校准，并且，该系统通过引入准直光路，利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准，使得太赫兹波与标准量具垂直，减小由非垂直入射引起的频谱误差，有效提高系统的准确性和可靠性。本发明还提供了一种太赫兹频谱校准方法，通过太赫兹频谱校准系统进行频谱校准，利用反向输入太赫兹光路的准直光调整太赫兹光路，使标准量具与太赫兹波垂直，减小标准量具对太赫兹倾斜角引起的频谱误差。
-
公开(公告)号：CN115825001A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211644498.6
申请日：2022-12-20
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种可变角度的太赫兹频段衰减全反射材料参数测量系统，涉及太赫兹波材料参数测量领域，包括太赫兹波产生系统、样品测量系统、太赫兹波探测系统和数据采集处理系统；太赫兹波产生系统辐射出的太赫兹波入射到样品测量系统中与待测样品发生衰减全反射作用,样品测量系统将携带样品介电特性的出射太赫兹波信号传输到探测天线进行探测,太赫兹波探测系统将探测到的原始太赫兹波信号传输到数据采集处理系统，以得到样品的材料参数特性，本发明具有保证太赫兹波传输过程中的波束完整性，确保待测样品材料参数测量过程中发生衰减全反射现象的优点。
-
公开(公告)号：CN115728242A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202211485933.5
申请日：2022-11-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/03 , G01N21/55 , G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及等离子体技术领域，尤其涉及一种太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响的测定方法。该方法将测量光路设置在单独的封闭盒体内，避免等离子体对其他检测设备的污染，提高检测准确度。通过将不同波段的太赫兹波能量聚集、反射以及收集，并通过获得相应波段等离子体包覆对样品反射率的影响系数，通过频段拼接的方式获得太赫兹全频段的测量数据，确定太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响，为后续等离子体包覆相关领域的各项研究提供一种新的方式。
-
公开(公告)号：CN115499991A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211252315.6
申请日：2022-10-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及电离度计算技术领域，特别涉及一种电感耦合等离子体电离度的测量校准方法和装置。方法包括：获取利用激光汤姆孙散射测量系统测得的待计算ICP发生器的第一管口气压和第一电子密度分布；基于验证好的ICP发生器的仿真模型、第一管口气压、第一电子密度分布和电子密度最大值，对ICP发生器进行气压校准，以得到ICP发生器内电子密度最大值处的第一真实气压；基于第一电子密度分布和第一真实气压，计算ICP发生器内的第一电离度；基于仿真模型和第一真实气压，对ICP发生器的等离子体反应过程进行仿真，得到ICP发生器内的第二电离度；利用第二电离度对第一电离度进行验证。本方案可以准确测量并校准电感耦合等离子体发生器内各个位置处的等离子体电离度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
91
records
(took 0.037 seconds)
