一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板

    公开(公告)号:CN108732427B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201810284117.5

    申请日:2018-04-02

    Abstract: 本发明提供了一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板,包括:反射面板基底层、反射面板金属层、均匀介质层和多个无源单元结构;所述反射面板金属层铺覆在所述反射面板基底层的表面;所述均匀介质层铺覆在所述反射面板金属层的表面;所述多个无源单元结构铺覆在所述均匀介质层表面。本方案能够补偿到达测试区域的电磁波的相位。

    一种紧缩场内角反射器RCS单天线测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN109917344A

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201910240829.1

    申请日:2019-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种紧缩场内角反射器RCS单天线测量系统及测量方法。测量系统包括信号发射和接收装置、脉冲调制装置、信号处理装置、收发开关、环形器和馈源天线;信号发射和接收装置用以发射检测信号和处理回波信号;脉冲调制装置用以对检测信号和回波信号进行脉冲调制处理,实现在单天线测试时对同一链路的分时使用;信号处理装置用以对脉冲调制处理后的检测信号和回波信号进行处理;收发开关用以实现在单天线测试时的分时收发和多极化测试;环形器用以对单天线的发射链路和接收链路进行隔离;馈源天线用以发射信号和接收信号。该测量装置和测量方法可以提高角反射器RCS测量的准确性,完成对角反射器多极化、宽频段、高效率的测试。

    圆周扫描模式下获取目标散射数据的方法

    公开(公告)号:CN108732548A

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201810284066.6

    申请日:2018-04-02

    Abstract: 本发明涉及圆周扫描模式下获取目标散射数据的方法,属于散射测量技术领域。该方法的具体实施方式包括:获取圆周扫描模式下目标的近场频域散射数据;对所述近场频域散射数据进行傅里叶逆变换,确定目标的近场距离域散射数据;根据近场距离域散射数据确定目标的远场距离域散射数据;根据目标的远场距离域散射数据确定目标的远场频域散射数据。本发明能够准确确定目标的近场散射数据和远场散射数据换算关系,可应用推广至任意不同距离条件下的散射数据变换;在根据远场散射数据确定近场散射数据时,能够避开由远场散射变换至近场散射的反卷积问题,逆向地由远场散射计算近场散射响应,拓宽散射测试的应用范围。

    一种用于UHF散射测试的阵列天线

    公开(公告)号:CN105846111A

    公开(公告)日:2016-08-10

    申请号:CN201610187431.2

    申请日:2016-03-29

    Inventor: 白杨 侯鑫

    CPC classification number: H01Q21/0018

    Abstract: 本发明公开了一种用于UHF散射测试的阵列天线,包括:双极化辐射系统、列馈系统、T/R系统及行馈系统;其中,双极化辐射系统包括M行N列共M*N个天线振子;列馈系统包括与N列天线振子一一相连的N个列馈单元,每个列馈单元包括M个列馈端口,用于为与所述列馈单元相连的一列天线振子中的每一个馈电;T/R系统包括与N个列馈单元一一相连的N个T/R组件,每个T/R组件用于控制其所在链路信号的发射与接收;行馈系统包括与N个T/R组件一一相连的N个行馈端口,每个行馈端口用于为与其相连的T/R组件馈电。本发明提供的阵列天线辐射增益高、辐射旁瓣低、照射均匀度好,满足UHF散射测试要求。

    一种用于近场测试的轻质化缩减尺寸天线

    公开(公告)号:CN104466428A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410697453.4

    申请日:2014-11-27

    Inventor: 白杨 高超

    Abstract: 本发明涉及一种用于近场测试的轻质化缩减尺寸天线,包括喇叭天线金属本体、喇叭天线金属本体口径处设置在所述喇叭天线金属本体口径处的椭圆弧形介质加载透镜,以及固定地锥顶设置在所述喇叭天线金属本体锥顶处的波导同轴转换器。根据本发明的用于近场测试的轻质化缩减尺寸天线,借助椭圆弧形介质加载透镜的曲线设计的汇聚作用,能够在较短的空间距离内修正辐射波的相位特性,使其向自由空间匹配的过度段变短,从而更接近于均匀照射,有效缩减近场测试天线的几何尺寸和测试系统的重量载荷,提高近场测试系统的性能。

Patent Agency Ranking